集成运算放大器的使用可靠性

1前言集成运算放大器是一种高倍率的直流放大器。当选取不同的反馈电路时，它就可以对信号进行放大以及加、减、微分、积分等运算。由于它的灵活性使其得到广泛的应用，从而成为模拟集成电路中最基本的一个分支。虽然运算放大器在使用中有很多优点，但是它也存在着一些特殊的问题。如果使用者对其了解不够，就会在使用中容易出现差错，甚至永久性的失效。本文就运算放大器的使用可靠性问题进行讨论。集成运算放大器的可靠性不仅取决于固有可靠性，而且与使用正确与否密切相关，尤其是在集成运算放大器不断成熟的今天，其固有可靠性得到较大…     

低噪声宽带放大器的设计实例

低噪声微波放大器是决定雷达接收机灵敏度的关键因素，而宽频带特性又是电子侦察和电磁兼容测量的关键特性。针对上述要求，研制了工作在3-6GHz的C波段低噪声宽带放大器。该场放经某基地使用，证明性能良好，满足军方要求。     

宽带光纤放大器技术进展

一、光通信的墓石——DWDM和W－EDFA激光和光纤从发明至实用,已被证明确实具有强大生命力,而且使用完全可靠。自此电通信就以快速的步伐朝向光通信方向发展。近几年来,单模光纤的1．55μm波长窗口显得特别重要,在这窗口实施的波分多路技术（WDM）以加大光纤实际传输容量,取得非常可喜的效果与它密切配合的是掺饵光纤放大器（EDFA）,用来延长光纤传输距离,同样取得明显成绩。当WDM系统的各路波长间隔进一步靠近以致同时传输的波长路数加多,进化为密集的WDM即DWDM时,势必要求它的同伴EDFA在更宽的波带内提供平坦的功率增…     

基于不同注入信号的集成宽带放大器失效分析

文章以硅基宽带放大器为例,主要研究不同脉冲信号注入情况下半导体器件和集成电路的失效机理。利用傅立叶级数展开方法,对矩形、正弦和三角等多种注入脉冲信号的功率谱计算结果表明,矩形脉冲的功率谱较大,且随幅度和占空比的增大而增大。对硅基宽带放大器注入各种脉冲信号的情况分别进行仿真,仿真结果与计算结果一致。     

宽带直流放大器系统设计

设计了一种增益连续可调的宽带直流放大器,通过单片机AT89S52控制数模转换器TLV5638来改变可变增益放大器AD8336增益的大小,实现了增益连续变化及预置增益以及显示的功能;此宽带直流放大器电压增益在0 dB～60 dB连续可调,3 dB通频带0～10 MHz,其中在0～9 MHz通频带内增益起伏≤1 dB,最大输出电压正弦波有效值V2≥10 V并无明显失真.     

微电子器件可靠性研究与展望

本文扼要介绍了近５年来我国在微电子器件（半导体分立器件及集成电路）可靠性研究方面所取得的进展与成果及存在的问题。预计今后５～１０年内，我国微电子器件可靠性研究工作将在５个方面展开，器件可靠性水平将提高１～２个数量级。     

焊点的质量与可靠性

主要介绍了Sn -Pb合金焊接焊点发生失效的各种表现形式 ,探讨发生失效的各种原因及如何在工艺上进行改进以改善焊点的可靠性 ,提高产品的质量     

焊点的质量与可靠性

本文介绍了Sn-Pb 合金焊接点发生失效的各种表现形式,探讨失效的各种原因。在实践基础上,指出如何在工艺上进行改进以改善焊点的可靠性,提高产品的质量。     

集成电路可靠性的进展

本文概述了集成电路可靠性的发展情况,着重对大规模集成电路的栅氧化层击穿、热电子效应、电迁移等失效机理进行了分析,并介绍了几种有关集成电路的可靠性试验和筛选方法。     

集成运放在可靠性筛选中致命性失效现象的分析

本文研究了低功耗集成运算放大器在可靠性筛选中出现的致命性失效现象,提取了必要的模型参数,藉助于Spicc-Ⅱ程序进行了失效现象的分析.模拟结果与实验的模式较为符合.     

半导体可靠性技术现状与展望

随着半导体技术的迅速发展,各种新材料、新工艺和新的设计技术不断涌现,给半导体器件及电路带来了各种新的可靠性问题。阐述了半导体可靠性技术的基本概念,介绍了半导体可靠性技术的主要研究内容,分析了在该领域国内外的研究现状,对国内半导体可靠性技术研究方向提出了建议,以期最大限度地保证国产半导体产品的质量与可靠性。     

CMOS／SOSCC4066器件的可靠性研究

本文介绍了CMOS/SOS CC4066器件长期可靠性试验结果。对失效器件的分析表明,硅-蓝宝石技术没有新的失效机理。该器件的可靠性不低于国内体硅MOS IC能达到的水平,并接近“七专”器件的水平。     

SDB/SOI双极器件失效机理与可靠性评价技术研究

对硅片直接键合/绝缘体上硅(SDB/SOI)双极电路的退化机理进行了描述。在基极-发射极反向偏置的条件下,研究了应力作用时间与器件参数的退化关系。实验结果表明,电流放大倍数β与退化时间的平方根呈线性关系;不同的反向偏压下,退化的速度也不同。建立了器件的退化模型,对双极器件在使用条件下的可靠性进行了分析。     

雷达固态发射机可靠性评估和失效判别的定量方法

本文导出了固态发射机可靠性评估模型和验证方法，以适应固态发射机可靠性设计和实验的需求。     

浅谈产品的可靠性与可靠性实验

本文对可靠性工程中可靠性和故障的基本概念、可靠性参数指标体系等可靠性相关理论进行了简要介绍,并重点对可靠性试验进行了详细的分类和说明.由于可靠性试验直接影响到产品质量的好坏,因此可靠性试验是产品可靠性工作的重要组成部分.