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用X射线荧光分析技术测定镀,包金层的厚度 总被引:3,自引:0,他引:3
把X射线荧光分析和低能γ射线散射技术相结合,准确地测量了镀、包金制品的镀、包金层厚度。可测定的最大镀、包层厚度为70μm,测量准确度好于10%。 相似文献
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我国后处理厂产生的放射性有机废物长期存放后已变为粘稠胶状物。胶状物经初步处理,分为水相和有机相。利用石墨晶体预衍射X射线荧光仪,建立了测定处理后水相和有机相中U、Zr的分析方法。水相体系主要含有U、Zr等元素,但个别样品中Zr的含量很高,采用Ag散射内标法已不能校正Zr对U的影响,因此,采用两步测量:首先利用Zr的校正曲线计算得到Zr的浓度. 相似文献
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