共查询到20条相似文献,搜索用时 75 毫秒
1.
2.
友清 《激光与光电子学进展》1999,36(5):28-30
为了泵浦飞秒掺铬镁橄榄石激光器,双包层光纤激光器把二极管激光条的多模输入功率转换成波长平均的单模输出。这种设计对生物成像应用以及非线性激光显微术应用的高功率成套系统显示有潜力。从事开发不以笨重泵浦源(如大框架水冷离子激光器或Nd∶YAG激光器)为基础... 相似文献
3.
四价铬镁橄榄石激光器特性研究 总被引:2,自引:1,他引:1
文中简要介绍了掺四价铬镁橄榄石(Cr4 :Mg2SiO4)晶体特性。对实用晶体的吸收特性与晶体取向的关系进行了实验测试。用1.06μm调QYAG激光泵浦,研究了三种不同透过率非色腔的输出特性,并就泵浦光的偏振方向对输出特性的影响做了实验研究,得到输出能量大于29mJ的结果,光一光转换效率达14.5%。 相似文献
4.
5.
6.
主要对微波管用镁橄榄石瓷进行工艺研究.通过试验对其烧结温度进行了分析,找出最佳烧结温度范围.试验结果表明:配方组成与烧结温度是镁橄榄瓷制备的关键因素. 相似文献
7.
掺镁、铁铌酸锂晶体的光吸收和ESR光谱研究 总被引:1,自引:0,他引:1
取过渡金属铁作为“标记杂质”,以相近浓度分別加入未掺镁和高浓度掺镁(6.0mol%MgO)的一致熔化组分LiNbO_3晶体中,测量了它们的紫外吸收边、OH~-红外吸收光谱和Fe~(3+)的ESR光谱,并加以比较,其显著差异表明两种晶体中Fe~(3+)的离子环境发生了突变,据此定性地解释了光吸收和ESR的实验结果. 相似文献
8.
10.
采用Cr4 :Mg2SiO4作为可饱和吸收体,实现脉冲式平凸非稳腔Nd:YAG激光器的被动调Q运转,得到脉宽34ns、输出能量13.8mJ的激光脉冲。在合适的实验条件下,也观察到被动锁模现象。实验上比较了激光器的不同腔结构和参数对调Q激光脉冲宽度和能量的影响,并给予合理的理论解释。 相似文献
11.
报道了在室温和液氮温度下分别用1064nm和532nm激光诱导的Cr:Mg_2SiO_4晶体的红外光致发光谱,并详细分析光谱的结构和特点.在假设Cr:Mg_2SiO_4晶体中同时存在(CrO_6)~(9-)和(CrO_4)~(4-)两种络离子的基础上讨论了红外光致发光的产生机理,理论计算证明假设是合理的. 相似文献
12.
13.
14.
利用醇盐溶胶-凝胶法合成(1-x)Zn2SiO4-xMg2SiO4陶瓷(x=0.1-0.9)。差热分析结合XRD分析表明(1-x)Zn2SiO4-xMg2SiO4的成相温度在800℃附近,1 150℃预烧粉体后,获得粒径为40-50 nm的Zn2SiO4-Mg2SiO4复相陶瓷粉末。复相陶瓷的最佳烧结温度在1 250℃-1 300℃,烧结过程中,部分组分产生了MgSiO3杂相。当x=0.6时,在1 250℃烧结后陶瓷的介电性能最优如下:εr=6.66,Q×f=174 800 GHz,τf=-38.7 ppm/℃,是一种有望应用于毫米波频段的新型介质陶瓷材料。 相似文献
15.
采用Nd:YAG调Q激光器输出的1.06 μm光脉冲抽运Cr4+:Mg2SiO4晶体,实现Cr4+:Mg2SiO4激光器的增益开关运转。从理论和实验上分析了抽运光采用不同焦距的透镜聚焦和Cr4+:Mg2SiO4激光器采用不同腔长时,抽运光和振荡激光的模式匹配,以及模式匹配与激光器光-光转换效率之间的关系。在最佳的实验条件下,得到中心波长约为1.22 μm,能量和脉宽分别为10 mJ和8.2 ns的激光脉冲,其光-光转换效率达到20%。 相似文献
16.
17.
采用sol-gel法及经空气中热处理制备了CoFe2O4和CoFe2O4/SiO2纳米材料。利用XRD、SEM和振动样品磁强计(VSM)对样品的结构、晶粒尺寸及磁性能进行了研究。结果表明:SiO2的加入有助于降低CoFe2O4的形成温度,有效抑制CoFe2O4晶粒的长大,并使CoFe2O4的Hc提高。经900℃热处理的CoFe2O4/SiO2样品中已不存在杂相Fe2O3;CoFe2O4的晶粒尺寸从无SiO2时的78nm减小到15nm;样品的Hc由41.1kA·m–1提高到73.1kA·m–1。 相似文献
18.
介绍了一种新型的二极管直接抽运的可调谐Cr^4^ :YAG全固化激光器,其输出激光的单脉冲功率最大可达260mW,其波长调谐范围为1356-1553nm,跨度为197nm。 相似文献
19.
用XPS法研究SiO_2/4H-SiC界面的组成 总被引:1,自引:0,他引:1
利用X射线光电子谱(XPS)研究了高温氧化形成的SiO2/4H-SiC界面的化学组成.获取低浓度HF酸刻蚀速度基础上制备出超薄氧化膜(1~1.5 nm)样品,并借助标准物对照法辅助谱峰分析.结果表明,高温氧化SiO2/4H-SiC界面,类石墨碳较多,除Si1 成分外,还存在Si2 和Si3 两种低值氧化物.三种工艺处理后界面成分含量的对比,指出界面成分可通过合理工艺有效控制,以C-V测试曲线印证了界面成分减少对电学特性的改善. 相似文献