DX－4透射电子显微镜某些故障的检修

ＤＸ－４透射电子显微镜某些故障的检修姜少军（山东滨州医学院电镜室，滨州２５６６０３）本文对ＤＸ－４透射电子显微镜使用过程中出现的一些故障及其排除方法进行了总结。１．故障现象：无高压。接通高压后，转动高压开关，束流表无指示。分析检查与故障排除：该机高压...     

H－600透射电子显微镜真空常见故障的维修

Ｈ－６００透射电子显微镜真空常见故障的维修邓志刚，李银祥（武汉工业大学，武汉４３００７０）大家知道，电子显微镜工作在高真空状态下，真空部分出故障，电镜将无法正常工作，我们将工作中遇到的故障及处理列举如下：１．机械密封不严而引起漏气此类故障最常见－往往...     

H－600透射电子显微镜灯丝电压故障维修

Ｈ－６００透射电子显微镜灯丝电压故障维修邓志刚李银祥（武汉工业大学，武汉４３００７０）故障现象高压工作正常，加上束流电压和灯丝电压后，出现束流指示和荧光屏光斑无规则地时有时无的现象。分析判断针对上述现象，作分析判断如下：１．在高压能正常工作情况下，灯...     

透射电子显微镜测试规范

一、分辨率: 1.测试方法: 点分辨率用重金属或碳颗粒样品进行测试。晶格分辨率依电镜分辨率的高低选用适合的晶体样品进行测试。以上两种测试方法中,以点分辨率为主。在整个仪器的调查过程中共进行两次分辨率的测试,每次照相10张。第二次测试安排在所有调查项目之后,并在常规工作条件下测出分辨率的最佳、最劣和平均值。     

用H－800分析型透射电子显微镜研究碳纤维的微细结构

本文以研究碳纤维微细结构为目的，讨论了在不具备高分辨型透射电子显微镜的条件下，利用分析型透射电子显微镜拍摄碳纤维碎片和切片的晶格条纹像的方法和条件。采用倾斜电子束的方法，根据相应的相位衬度传递特性曲线，针对不同结构尺寸的碳纤维确定适当的离焦量，可拍摄出碳纤维的晶格条纹像。由碳纤维纵向切片的高分辨像和电子衍射花样可以看出，碳纤维的晶面间距约为０．３４ｎｍ，纵向结构取向平行于纤维轴。碳纤维的模量随着热处理温度的升高而增加，其晶面间距减少，条纹变直、变长，趋于规整。     

透射电子显微镜分辨率的改进

本文在论述透射电子显微镜物镜球差和色差对电子显微镜分辨率的限制基础上,介绍了克服这些限制因素的方法,并展示了同时配备有球差矫正器和单色器透射电镜的一些最初结果。     

简述透射电子显微镜发展历程

透射电子显微镜是高端科学仪器,与科学技术的进步、国家的发展密切相关。本文简述了国内外透射电子显微镜的发展历程,为其发展理清历史脉络,以促进透射电子显微镜及其相关扩展仪器与类似设备的良好发展,使我国电子束技术得到更广泛的应用。     

用微计算机控制透射电子显微镜

由微机组成的电器系统可靠性高、功能强、操作简便、成本低。一、硬件结构及电性能 AIM65单板机通过接口电路控制DX4型透射电镜的六个透镜电源及照明束的四个偏转电源。为了便于操作,采用了单键控制,键盘布局模拟了DX4型电镜的操作面板设置了一组多功能键使得操作台小型化。显示装置是一块二十位字母—数字模板。物镜电源电流最大为7A,连续可调,稳定度优于2×10(-6)/分,系统设计和调试过程中消除了各种干扰。     

珍珠与珍珠贝的透射电子显微镜研究

前人用化学、光学和x射线衍射等方法研究了珍珠、珍珠贝的成分和结构,本工作在此基础上,主要依靠透射电子显微术的选区电子衍射、电子衍衬象与形貌象、高分辨晶格象、微区x射线能谱分析等手段,并辅之以光学显微与光学衍射方法,研究了珍珠和珍珠贝的内部结构、珍珠中晶体的微观结构特点以及在微米尺度上晶粒间的相互关系。结果如下:     

LaFe6Al7的透射电子显微镜研究

La(Fe_xAl_(1-x)_(13)(x=0.46～0.92)是一种新型的磁性材料,目前关于它的磁性质和结构特性已有了初步研究。近期我们主要分析LaFe_6Al_7(x=0.46)磁性化合物的微结构和制备过程的关系。X射线衍射分析结果显示,LaFe_6Al_7,在900℃退火10天后为面心立方结构;再经500℃热处理60天其晶体结构转变为正交结构。我们用H-9000NA透射电子显微镜对以上两种样品进行了研究,在此主要报导再处理过程对LaFe_6Al_7,晶体的结构及微结构的影响。试样制备是将块状样品研碎,撒在微栅网上。     

激光退火多晶硅的透射电子显微镜观察

本文用透射电子显微镜观察了SiO_2/Si衬底上化学金相沉积多晶硅层经硼离子注入,再由Q-Nd∶YAG激光或二氧化碳激光或热处理退火后晶粒的变化。激光退火多晶硅的晶粒可由500A长大为7μm×3μm以上。本文并着重介绍了激光退火多晶硅的电镜试样的制备方法。     

透射电子显微镜对接膜样品的制作

在透射电子显微镜(TEM)样品制作中,对接膜样品制作最为复杂,同时得到的薄膜信息也非常多,是进行材料研究的一个非常有用的观测方法.并介绍了这种样品的制作过程和样品的测试分析情况.     

聚（乙烯－乙烯醇）和聚（乙烯－醋酸乙烯酯）共聚物形态结构的透射电子显微镜研究

聚（乙烯－乙烯醇）和聚（乙烯－醋酸乙烯酯）共聚物形态结构的透射电子显微镜研究杨俊彦郭凡修徐端夫＊（中国科学院化学研究所，北京１０００８０）高分子的形态结构与高分子材料的性能、用途、加工等密切相关，是高分子领域中一类很基本且很重要的问题。结晶性乙烯共聚...     

铌的透射电子显微镜样品的制备技术

一种新的大面积TEM样品制备技术——背面防护漂浮减薄法,已在原始厚度约为半微米的共蒸Nb_3Ge薄膜和扩散Nb_3Sn薄膜上,成功地制备出大面积TEM样品。本文报导,将这种方法应用于原始厚度约为15微米的Nb箔,同样也能够制备出大面积TEM样品。这种TEM制样技术不需要复杂的减薄装置或设备,方法简便,易于掌握。预期可在原始厚度约为几十微米的其它样品上,推广使用。     

DXT—200型高压透射电子显微镜

DXT-200型电子显微镜加速电压为200kV,分辨力晶格为0.2nm、粒子为0.3nm。最大放大倍率为50万倍。电子枪采用六极加速,每一个加速极由不锈钢柱体组成,每个电极之间采用陶瓷金属化封接,使电子枪腔内保持10~(-5)pa直空。加速极之间电压为33kV,是从六个高压电阻串上取得分压。高压电阻是处在2kg/cm~2的氟里昂气体容器之内。整个电子枪可用起重架升起,置换灯丝极为方便。电子枪与聚光镜合轴采用方框形铁芯偏转线圈,偏转正交性好。物镜采用侧入式倾斜台,倾斜角为±     

多晶Au纳米线大塑性变形的原位透射电子显微镜研究

本文利用透射电镜‘双倾拉伸实验’技术,原位研究了Au多晶纳米线在拉伸状态下的变形行为。实验发现由纳米晶粒组成的多晶纳米线在室温下具有~48%的大塑性变形能力。这种大塑性变形能力由晶界滑移和晶界的迁移相互协调实现。在滑移的同时,通过晶界原子扩散导致的晶界迁移来协调晶界滑移,避免空洞和裂纹的产生。     

JEM-1200EX透射电子显微镜故障检修

故障一　开机后仪器真空系统正常,计算机显示屏只显示一行字“FCITFPBError”,按复位键及其它键均无反应,呈“死机”状态,仪器右面板各键指示灯全亮。故障分析　仪器正常时,开机后几秒钟计算机即转到显示各参数的初始状态。这台电镜以前也常出现“死机”现象,原因大多为MPUPB板上的微处理器芯片8080A、CMEMORY板上的6只EPROM集成块接触不良造成,一般是把它们拔出,清洗管脚后再重新插入,并用万用表检查每个管脚都与线路板连通,仪器基本都能恢复正常,但这次无法恢复。该电镜计算机系统具有自检功能,哪一块线路板出现问题,会在计算…     

透射电子显微镜单色器的发展及应用

自1932年透射电子显微镜发明以来,透射电子显微学在基础理论、仪器研制及其在材料科学、生命科学等领域的应用得到了迅速发展,200kV场发射枪透射电子显微镜的点分辨率已达0.19～0.25nm,能量分辨率为0.7～1.0eV。进一步提高透射电子显微镜性能的关键在于降低物镜球差和电子束能量扩散等。球差校正器的发明使透射电镜的点分辨率已突破0.1nm,电子源色差已成为进一步提高电子显微镜信息分辨极限和电子能量损失谱能量分辨率的瓶颈。在场发射枪透射电子显微镜上增加单色器（能量过滤器）可有效降低电子束的能量色散,减小色差对电子显微镜性能的影响。本文介绍了Wien型、Ω型及Mandoline型等几种常见的能量过滤器的工作原理、结构、性能及其应用。