基于SQLite的边界扫描互连测试矢量生成设计

互连测试是边界扫描技术的主要内容之一,在分析IEEE1149.1的基础上,给出一种基于嵌入式开源数据库SQLite的边界扫描测试系统中互连测试矢量生成的设计;利用SQLite数据库中存储的被测电路的扫描链路信息和器件等信息,得到扫描粗链并进一步形成扫描细链;利用可测网络信息结合测试算法产生测试矢量;最终将测试矢量在扫描细链上对扫描单元赋值即得到扫描链的互连测试矢量集;测试结果表明,该设计可快速生成测试矢量而缩短测试时间,具有较好的应用前景.     

基于边界扫描的电子系统故障诊断技术研究

电子系统的发展对其测试与故障诊断提出了更高的要求;边界扫描技术为芯片级、电路板级以致系统级测试提供了一套高效的标准化手段,但其应用也增加了电路的复杂性;以某电路板级系统为原型,进行了基于边界扫描的测试设计,构建了边界扫描测试系统;将贪婪策略应用于测试性优化设计中,通过置换简化、定性分离等方法,综合权衡设计复杂性和测试性改善;在互连测试实验中得到的结果与注入的故障模型相符,说明利用边界扫描机理能够准确地定位故障,得到了预期结果。     

基于边界扫描的板级互连测试及测试向量生成

针对现有测试向量的不足,该文介绍了边界扫描的基本原理和结构并且分析了测试算法,重点论述了在互连测试中向边界扫描单元预装测试向量和提取响应的方法,最后提出了一种可施加于电路板扫描链上的测试向量生成方法。实验结果表明,该方法思路清晰,能够检测被测电路板中多条扫描链的固定0、固定1、短路和开路故障。     

基于边界扫描的板级测试向量自动生成

针对现有测试向量存在的不足,提出一种可施加到电路板扫描链上的测试向量自动生成方法,该方法利用被测电路的网络表文件和边界扫描描述语言文件,获取器件互连关系、边界扫描信息及扫描链路结构,结合测试算法生成板级测试向量,根据扫描链数目及连接关系将其扩展并生成可施加到扫描链上的链路级测试向量。实验结果表明,该方法能检测被测电路中多条扫描链的固定0、固定1、短路和开路故障,为测试系统提供了实用高效的测试向量。     

支持SJTAG的边界扫描测试系统

本系统将IEEE 1149.1标准测试总线扩展为一个多扫描链的测试总线环境,能够快速对多板进行测试,准确定位故障位置和类型。相对于单一连续扫描链测试系统,支持SJTAG的本系统提高了测试吞吐量,能够隔离系统中某个暂不测试的板并对其余板进行测试访问,整体上提高了测试故障覆盖率,并且能够更精确地定位故障。     

边界扫描测试算法的分析与优化

伴随着电子技术和边界扫描测试技术的飞速发展,新的边界扫描测试算法也在不断涌现;而边界扫描测试的算法,一般都是指在互联模型的基础上,边界扫描测试向量的生成算法;生成合理的测试向量集可以以最短的测试时间来覆盖尽可能多的故障;从对一些常用的边界扫描测试算法进行了粗略的分析,到后来对等权值算法和二进制计数算法进行了详细的分析,通过引入和分析边界扫描测试算法的定理、公式以及推论等,分别提出了等权值优化算法和权值递加算法;与优化前的算法作为比较,等权值优化算法降低了征兆混淆出现的概率,而权值递加算法同时降低了征兆误判率和征兆混淆率;综合分析,新的算法更好的权衡了测试向量集的完备性指标和紧凑型指标。     

基于边界扫描的SRAM测试技术的研究与实现北大核心

静态随机存储器(SRAM)应用广泛,必须充分测试以保证其高可靠性;应用边界扫描的虚拟探针技术实现SRAM测试,分析SRAM功能结构并建立测试模型;以HY6264SRAM存储器为被测对象进行DEMO板可测性设计,应用TCL语言描述其测试信息;实验证明,该方法可完成对SRAM外围线(包括控制线、数据线和地址线)和存储单元的测试与故障诊断,结果正确且诊断定位具体,具有较好的应用前景。     

边界扫描测试系统软件设计与实现

为推动边界扫描技术在故障诊断领域中的应用,对边界扫描测试技术进行了研究,设计并开发了一种基于VXI总线的边界扫描测试系统;文章介绍了边界扫描的基本结构和测试原理,并重点介绍了开发边界扫描测试系统软件的流程;实验结果表明,开发的边界扫描测试系统能够利用器件的边界扫描描述文件,自动生成测试向量并完成对数字电路的测试以及故障诊断等任务,同时可以对设置的故障进行精确的定位和隔离。     

遗传算法的板级边界扫描测试矢量优化及应用

测试矢量是边界扫描技术的关键之一,测试矢量集直接影响测试的效率和结果。文章将遗传算法引入可测性设计中的边界扫描测试领域,以PCB、MCM等为工程对象,探索了遗传算法的互连测试矢量生成,提出了具有互连测试特性的适应度函数、遗传算子和遗传操作,并进行了仿真实验和实际的DEMO板测试,结果表明该算法具有一定的优越性。     

数模混合电路互连测试矢量自动生成的实现

测试矢量的自动生成研究一直都是板级边界扫描互连测试中的重点,针对数模混合被测电路的不同结构类型,特别是多扇出类型结点相连的复杂情况,建立了具有代表性的互连结构测试模型;在此模型的基础上提出可进行完备性测试矢量的自动生成算法并用软件加以实现;利用该算法,对实际DEMO板上的芯片进行了互连测试,测试结果表明该算法满足板级边界扫描互连测试的矢量自动生成要求。     

基于边界扫描的测试技术

鉴于工程实践中对边界扫描技术的忽视,分析了它在实际使用中存在的误区,介绍了边界扫描接口的定义及其具体硬件结构,阐述了边界扫描的工作原理。并分析总结了其用于实际测试中的作用与优点,提出了对边界扫描测试进行优化时需要注意的方面．以利于更好地普及应用。     

基于边界扫描的测试技术

鉴于工程实践中对边界扫描技术的忽视,分析了它在实际使用中存在的误区,介绍了边界扫描接口的定义及其具体硬件结构,阐述了边界扫描的工作原理。并分析总结了其用于实际测试中的作用与优点,提出了对边界扫描测试进行优化时需要注意的方面,以利于更好地普及应用。     

基于边界扫描的单片机系统RAM芯片测试研究

存储器具有存储容量大、集成度高以及工作速度快等特点,被广泛应用于现代电路设计中;在电路中,存储器能否正常工作,将直接影响整个系统工作状态是否稳定;为了提高系统的可靠性,对存储器进行可靠性测试是十分必要的;在介绍了存储器电路结构和故障的基础上,对某含有RAM存储器的CPU板进行了基于边界扫描的BIT测试性设计和改造,并对系统中的RAM芯片进行了测试性验证;实验结果表明,改造后的电路系统能够实现RAM自测试功能,且故障定位准确,达到了预期的设计目的,可有效提高系统的可靠性。     

边界扫描测试优化算法

分析全0(1)+01(10)并行序列算法、极大权值极小相异性算法、自适应完备诊断算法和遗传算法4种边界扫描测试生成算法,对比其各自的优缺点。通过DEMO板互连测试,对比测试时间和紧凑性指标,结果表明遗传算法是相对最优的算法,能生成具有抗征兆误判能力且紧凑性较好的测试矢量。     

基于SQLite和SVF的边界扫描测试生成设计

SVF(Serial Vector Format,串行矢量格式)是一种测试矢量的通用描述形式,通过解析SVF文件,生成符合JTAG时序的测试信号,包括TCK、TMS、TDI以及预期的TDO值,这些测试信号可直接与被测系统相连,控制扫描测试过程。为方便查找与参数信息共享,将信息分类存入嵌入式开源SQLite数据库中。最后利用CY7C68013通过并口方式验证SVF解析器产生的测试信号。验证结果表明,SVF解析器可正确解析SVF文件,产生符合JTAG时序的测试信号。     

边界扫描测试的软件实现

随着芯片集成度和印刷电路板复杂度的不断提高，边界扫描测试技术在芯片故障检测中的应用越来越广泛。该文在分析IEEE JTAG标准和并口标准的基础上，设计开发了边界扫描测试软件。引入Access为后台数据库，实现了多种芯片的故障检测功能；介绍了边界扫描测试的基本原理和结构；讲述了BST软件设计中精确时钟控制、管脚查找、显示管脚波形等设计方法。以Altera的ep1c6q240器件为例，介绍了整个边界扫描测试过程。     

扫描链故障确定性诊断向量生成算法

扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,是提高测试质量的有效手段.但由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面积的30%,因此扫描链故障导致的失效可能会达到失效总数的50%.提出一种扫描链故障确定性诊断向量生成算法:首先建立了诊断扫描链故障的电路模型,利用该模型可以采用现有固定型故障测试生成工具产生扫描链诊断向量;然后提出一种故障响应分析方法,以有效地降低候选故障对的数量,从而在保障诊断质量的前提下减少诊断向量数目,缩短了诊断过程的时间.实验结果表明,在测试诊断精确度、故障分辨率和向量生成时间方面,该算法均优于已有的扫描链诊断向量生成方法.