食品样品密度差异对HPGe γ谱仪测量结果的影响

样品与标准源质量密度往往不一致。添加等量的放射性核素~(232)Th,制备6个密度梯次分布的食品样品,用高纯锗(HPGe)γ谱仪对~(232)Th子体各谱线分别进行能谱分析,用全能峰面积净计数率比计算样品的相对自吸收校正系数。再用无源效率刻度软件Gammaclib对这6个密度样品进行建模仿真,拟合出各谱线效率,用效率比计算样品的相对自吸收校正系数。两种方法结果表明,食品样品与标准源的密度差异会对实验结果产生影响,需要进行自吸收校正。     

两套HPGeγ谱仪对土壤样品的测量结果比对分析

以比对的手法介绍了两套高纯锗γ谱仪的性能。采用相对测量法．分别用两套谱仪对三个土壤样品进行测量,并进行了自吸收校正,对测量结果进行了分析讨论。     

正电子湮没寿命测量中干扰信号对谱仪和测量结果的影响

正电子湮没信号的精准采集与关联符合技术是寿命谱灵敏表征材料微观缺陷的基础。测量环境中放射性射线对正电子湮没信号采集的影响,制约着寿命谱方法在复杂辐射背景中应用,特别是在核结构材料中子辐照损伤研究中,中子活化诱发的放射性核素形成的γ射线本底,将影响正电子寿命谱仪的测量结果。为探究γ本底对正电子湮没寿命测量的影响规律,本文基于⁶⁰Co、¹³⁷Cs源设计了辐射背景仿真实验,结果显示：⁶⁰Co源产生的双高能γ射线是影响寿命谱形状及湮没寿命的主要因素;通过对比高、低两种典型活度比(⁶⁰Co/²²Na为3.3和1.9)下的测量结果,并经活化反应堆压力容器钢样品放射性本底真实情况检验,结果发现：在低活度比下,辐射本底导致的偶然符合概率增大,寿命谱峰谷比显著变差;在高活度比下,除偶然符合外,信号错误符合概率急剧增加,谱形明显畸变且寿命值迅速减小。基于本文辐射背景放射源模拟方法及干扰γ的影响规律,可进一步探索正电子湮没寿命测量中γ本底排除的新技术和新方法。     

地形对车载就地HPGe γ谱仪测量结果的影响

本文简要描述了车载就地HPGe γ谱仪实际测量结果受几种地形影响的程度。以^137Cs测量为例,通过Beck公式计算,经理论模型的近似估算,得出了现场几种不同地形影响下的比活度计算值与测量结果的相对偏差。结果表明,在本文给出的三种地形(台阶、冲沟和山包)条件下,假定^137Cs在土壤中均匀分布,当测量高度为4m时,地形对就地HPGe γ谱仪测量结果的影响小于20％;随探测器距地面高度增加,测量结果受地形的影响将减小。     

样品自吸收对γ谱测量结果的影响

用蒙特卡罗方法模拟计算了三种不同基质样品的效率,每种基质的样品计算了三种不同的样品高度,每个高度计算了15个不同能量处的效率,由效率计算出了自吸收因子,并用实验的方法验证了土壤和铁矿石两种基质在低能区的自吸收因子。     

基于反宇宙射线γ谱仪的水样品测量

本文基于本底水平较低的反宇宙射线γ谱仪,对其在水样品测量上的应用进行了探讨。文中使用水标准源对反宇宙射线γ谱仪进行效率刻度,比较不同形状水样品探测效率差异,对采集的某水样品经蒸发浓缩后测量,比较反宇宙γ谱仪与其他γ谱仪测量水样品的探测限。结果γ射线能量E<130 ke V时,反宇宙γ谱仪对马林杯(?17 cm×17 cm)水样品的探测效率低于圆柱体(?7. 5 cm×7. 0 cm)水样品,而E>130 ke V时,马林杯水样品的探测效率明显大于圆柱体样品。反宇宙γ谱仪测量马林杯水样品的探测限比圆柱体水样品探测限低一个数量级。反宇宙γ谱仪对同一水样品的探测限比常规高纯锗谱仪低一个数量级,该反宇宙γ谱仪直接测量未经前处理马林杯水样品中核素144Ce、137Cs和60Co的探测限分别为3. 07×10^-2Bq/L、3. 67×10^-3Bq/L、3. 70×10^-3Bq/L。结论是反宇宙射线γ谱仪可用于低水平放射性水样品测量,其优势在于减少前处理时间,缩短样品测量周期,大大降低探测限,提高测量精确度。     

HPGe伽马谱仪测量环境样品的效率刻度方法

针对环境样品天然放射性核素分析中,伽马谱仪对238U、235U等发射低能特征γ射线(200ke V)核素的测量准确性较差问题,运用灵活性强、适用范围广的无源效率刻度方法。考虑样品的吸收衰减、特征峰本底扣除、样品盒几何尺寸等因素的影响,使实验结果的准确度得到了较大的提高,最大相对偏差8.0%。     

氙气样品的点源效率函数法HPGe谱仪测量

用HPGe γ谱仪,在5个高度上用241Am、137Cs、60Co混合点源测量Φ75 mm×25mm空样品不同剖面上不同位置的全能峰探测效率,用最小二乘拟合法确定点源峰效率函数中的的各参数值,用该点源效率函数对φ63.50 mm× 16.66 mm的氙气体样品进行数值积分计算,得氙气体的81.0、160.6、163.9...     

γ谱仪测量土壤样品探测效率模拟刻度研究

针对Ф75mm×25mm的土壤样品,利用HPGeγ谱仪,分别用241Am、137Cs、~(60)Co混合点源测量5种高度的样品剖面上不同位置的全能峰效率,确定点源全能峰效率随半径变化的函数关系,对该函数进行数值积分计算可以得到59.54keV、661.66keV、1173.2keV和1332.5keVγ射线的面源全能峰效率,进一步拟合确定面源全能峰效率随样品高度变化的函数参数,对样品高度进行数值积分计算得到Ф75mm×25mm样品的体源全能峰效率。结果表明,点源模拟计算的体源全能峰效率和标准体源全能峰效率进行比较,两者在10%以内符合。因此,在没有标准体源的情况下,用已知活度的标准点源模拟体源进行全能峰效率刻度的方法替代标准体源进行效率刻度方法是可行的。     

样品厚度对高纯锗γ谱仪探测效率的影响

通过对不同厚度样品的γ射线测量,得出波谱峰面积与样品厚度的关系,并通过相对测量和效率刻度测量方法,计算不同厚度样品在46.5、351.9、477.6、661.7 keV能量下的探测效率.探测效率随样品厚度的变化较大,不同厚度样品的4种探测效率最大值平均为最小值的2.6倍.实验结果显示:探测效率随样品厚度增加而逐渐减小,...     

样品厚度对高纯锗γ谱仪探测效率的影响研究

<正>制备以1cm厚度为间隔,共7组不同分装厚度同一批次的土壤样品,利用高纯锗γ谱仪对其进行多次测量。针对~(210)Pb(46.5keV)、~(226) Ra(352keV)、~(232) Th(583keV)及~(40) K(1 460.8keV)4种不同能量的核素在考虑样品自吸收影响的前提下,研究不同能量下土壤样品厚度与探测效率之间的关系。实验结论如下:在同一能量下,样品厚度增加,立体角减小,其对γ射线的自吸收增大,探测效率逐渐减小且呈现对数关系。但随     

土壤样品中的含水量对HPGe γ谱仪探测效率的影响

为了考查环境土壤样品中含水量对放射性活度测量准确性的影响,采用蒙特卡罗程序MCNP4B模拟计算了当土壤样品具有不同含水量时,对不同能量γ射线用(HPGe)探测器测量效率的影响,得到了γ探测效率受含水量影响大小与样品水分含量和与γ射线能量的关系,以此关系可以得出一定含水量对不同天然放射性活度测量准确性的影响。     

放射性核素核查氙归档样品HPGe γ谱仪测量源的制备

惰性气体氙的监测是全面禁止核试验条约(CTBT)放射性核素核查的重要内容。为促进氙监测技术能力的提高,条约组织国际监测系统(IMS)司安装和认证组(ICG)2007年组织了惰性气体氙归档样品在台站和实验室间的传递实验。实验室在采用高纯锗伽玛(HPGeγ)谱法测量分析归档样品中放射性氙同位素活度时,需将样品气体中的氙高效定量转移至HPGeγ测量源盒中。以活性炭低温吸附、高温解吸结合隔膜泵转移的方法进行氙样品的转移,完成了2007年度4个CTBT氙归档样品HPGeγ测量源的制备。采用气相色谱法分析确定了每个样品氙的转移效率,氙的转移效率达约80%。     

高纯锗γ谱仪对环境样品的效率刻度

本文用半经验公式的方法刻度了高纯锗γ谱仪对环境样品的探测效率，通过与中国原子能院、苏州医学院和秦山核电厂参加的环境样品对测量，验证了该方法，本方法的分析结果基本在１０％不确定度范围内与标准源的参考值或环境样品均值相符合。     

HPGe γ谱仪对环境样品的探测效率刻度

利用混合单能γ核素体标准源和＾１５２Ｅｕ体标准源对ＨＰＧｅγ谱仪作效率刻度，取得两条效率刻度曲线，用这两工线对国家环保局１９９５年组织的比对样品作活度测量，取得了很好的结果。     

北京谱仪的磁场测量

本文介绍了北京谱仪磁场的两种监测系统。     

基于HPGeγ谱仪的土壤样品分析

使用宽能超低本底HPGeγ谱仪,分别采用无源效率刻度曲线法和相对测量比较法对土壤样品中226Ra、232Th、40K、238U的放射性活度进行了测量。通过对计算结果的对比分析得出:在150 keV以上的中高能区无源效率刻度方法与传统相对比较法对相同样品的测量分析结果具有很好的一致性,在无标准源可依或现场测量分析等情况下,无源效率刻度方法是一种比较理想的效率刻度方法。     

D-D次生源计数对密度测量的影响

为研究D-D源密度测量过程中俘获γ计数对密度测量的影响,本文首先分析D-D源密度测量的原理,其次研究D-D源与地层反应产生的γ射线类型,并采用蒙特卡罗模拟方法对比分析了D-D源和D-T源密度测量过程中次生γ强度高低。结果表明,D-D源密度测量过程中次生γ以俘获γ为主;尽管D-D源的中子产额远低于D-T源,但在源距大于50 cm后低孔隙地层中D-D源俘获γ计数高于D-T源非弹γ计数;此外,高孔隙地层中D-D源俘获γ计数也可以通过调整源距大小满足密度测量的要求。因此,使用D-D源测量的次生γ计数能够满足密度测量的统计精度要求。     

串道现象对测量结果的影响

为更加准确地评价低水平放射性样品的测量结果,利用低本底α/β测量仪研究了串道现象对测量结果的影响及其影响程度。利用239Pu和90Sr-90 Y电镀源测定了α通道与β通道之间的串道因子,结果表明:α通道对β通道的串道现象明显,在样品测量时应考虑扣除串道带来的计数;β通道对α通道的串道影响很小,但在β净计数率足够高时,仍会对α的测量结果带来明显影响。样品测量过程中,考虑到不同α核素导致的串道因子之间的差异,为避免单一核素刻度串道因子引入新的误差,使用合适的遮挡物完全屏蔽样品中的α射线,可确保测量结果更加准确。