x-射线荧光光谱滤纸片法分析痕量稀土

本文对x-射线荧光光谱的制样方法、谱线干扰校正、背景扣除进行了研究,将滤纸片法应用于分析痕量稀土元素,方法准确可靠,快速简便。     

稀土元素和钽妮的X射线荧光光谱分析

X射线荧光光谱法,在稀有、稀土及其他有色金属的分析测试中,越来越得到广泛的应用,与化学法比较,该法具有工效高、劳动条件好等优点。使用仪器为日本理学3080EX射线荧光光谱仪,X射线管系侧窗铑靶,配有内存448K的计算机及可装24个样品的进样台,工作参数予先进入,可自动扣除干扰打印出分析结果。     

无标样X射线荧光光谱分析法

在用X射线荧光光谱仪分析试样时,标样来源有限,自己制作又十分麻烦,武汉材料保护研究所用日本理学电机株式会社七十年代生产的X射线荧光仪进行实验(X光管靶     

二、X射线荧光分析

066 赵美观感——(中南矿冶学院分析化学教研室,赵新那) 1979年9月至1980年元月,我赵美期间曾参观过八所高等院校,9个研究所、工厂和学校的分析室。给我较深印象的是:     

全自动荧光X射线多波道多元素同时分析装置

著名的日本理学电机工业厂,最近制成多波道荧光 x 射线分析装置(3530型)。该装置能将固定元素波道扩大到30个,也可变成28个固定元素波道和1个扫描型测角计波道,或26个固定元素波道和2个扫描型测角计波     

现代X射线荧光分析艺术

现代波长色散X射线光谱仪是对元素分析的一种无破坏性的、对环境无污染的分析方法.可对固体、粒末、液态样品中铍至铀间各元素进行定性、半定量及定量测定.     

X射线荧光光谱法分析锰铁

本文通过对X荧光光谱法测定锰铁中元素进行研究,试样采用粉末压片法制成,用国家标样和自制标样绘制工作曲线,取得了较好的效果.     

X射线荧光光谱法同时测定锰矿石中主次元素

采用熔融制样一XRF光谱法测定锰矿石中主、次元素。试样以Li2B4O7为熔剂、NH4NO3为氧化剂,经过高温熔融制成玻璃融片,用xRF法定量分析及化学法分析试验与比较。该方法具有简便、快速和准确等优点。     

X射线荧光光谱仪

本文介绍了X射线荧光的基本知识,对常用的波长和能量色散光谱仪的结构、功能进行了分析对比。     

钆镁合金X荧光光谱点滴滤纸片薄样测定法的研究

建立了滤纸制样,以锰作内标,X射线荧光光谱测定钆镁合金中主量元素的方法。准确度与精密度良好。方法操作简单、方便、快速。     

X射线荧光光谱法分析铁矿石中19种组分

选用铁矿石试样与混合熔剂(四硼酸锂-偏硼酸锂-溴化锂)、稀释比为1∶12、1 000 ℃熔融25 min制备熔片,应用X射线荧光光谱法(XRF)测试铁矿石中全铁、二氧化硅、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁、氧化锰、二氧化钛、磷、硫、氧化钾、氧化钠、五氧化二钒、铬、镍、铜、锌、砷、铅、氧化钡等19种组分。通过标准物质、光谱纯物质、人工合成样品及化学定值样品制作校准曲线并进行分段回归。添加氧化钴作内标校正元素铁,应用康普顿散射线校正铜、锌、砷、铅,采用经验系数法校正其他14种组分,可有效克服测定各类铁矿石中各组分时基体效应的影响。对铁矿石样品进行精密度试验考察,各组分测定结果的相对标准偏差(RSD,n=11)在0.13%~7.7%之间;对标准样品及未知样品进行准确度考察,测定值与认定值或湿法值一致。     

X射线荧光光谱熔融片法测定铜矿中的主次元素分析

在对铜矿中的主次元素进行测定时,利用X射线荧光光谱熔融片法开展相关工作,可以通过熔融制样和压片制样两种方法,提高最终测定结果的准确性。在进行熔融制样时,主要是利用X射线荧光光谱仪器设备,对铜矿中的12种主量元素进行有效的测定和分析,还要对制样过程中的各项影响因素进行全面的控制,确保检验过程中的基体效应能够完全消除。在进行光谱检测技术应用时,具备更高的检测度和灵敏度,且平行效果比较好,本文就X射线荧光光谱熔融片法测定铜矿中的主次元素进行相关的分析和探讨。     

精炼渣X射线荧光快速分析

选用熔融的方法制样，使用PHLIPS PWl480 X射线荧光光谱分析仪测定精炼渣中的CaO、MsO、AI2O3、SiO2，方法快速、便捷，所得结果满足生产要求，能完全替代化学分析。     

X射线荧光光谱法快速分析消泡剂

以四硼酸锂为熔剂熔融制样,建立了消泡剂中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3和Na2O的X射线荧光光谱分析方法,考察了不同稀释比例的玻璃熔片制备的重复性,讨论了烧失量的影响。本方法采用国家标准样品和人工合成样品来制作工作曲线,通过精密度和准确度实验,表明本方法准确可靠,能满足生产要求。     

氯化稀土和钐铕钆富集物中单一稀土元素的x射线荧光光谱分析

本文论述了应用日本岛津VXQ—150Ax射线荧光光谱仪,测定氯化稀土中和钐铕钆富集物中单一稀土元素的测定条件和方法,认为分析结果准确可靠,满足生产要求。并划定了各个元素的测定范围。     

同位素X荧光谱线解析法获取单一稀土元素含量的研究

利用同位素X荧光谱线解析法分析萃取过程单一稀土元素的含量。使用放射源(241)Am激发稀土元素的K系荧光.用高分辨半导体探测器直接测定槽体的全部稀土元素谱线,通过多道脉冲分析器获取X荧光能谱。由于各稀土元素有其特征荧光能量,通过能量峰位值鉴别元素的种类,经过对谱线的解析处理最终求出峰的净面积,从而给出相对含量(利用自行设计分析软件IXRF)。通过微机解谱、处理数据.由所分析结果得到:小于58/l浓度时分析误差小于20%;大于10g/l分析误差小于10%。本工作是为稀土萃取过程在线分析所完成的实验室阶段任务,从分析结果看可以满足在线分析的技术要求。     

X射线荧光光谱仪简介

综述当前Ｘ射线荧光光谱仪的特点及发展，比较了世界一些主要产品的性能，介绍梅山首次引进的Ｘ射线荧光光谱仪的情况。