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从理论和实验两方面研究OH-和氧离子杂质对BaF2晶体辐照损伤的影响,并对其机理进行讨论.理论上用(HFS-DVM-Xα)局域密度离散变分法计算OH-和氧离子杂质心在BaF2中的电子结构,得到OH-,Hs-(U心),Os-,Os2-和(Os2--F+)都可能是引起辐照损伤的源泉.实验发现,BaF2晶体水解处理后,OH-和氧离子杂质很容易进入BaF2,在晶体中的存在形式主要是:OH-占据阴离子位置,氧离子以Os2-的形式占据F-的晶格位置,并由氟空位(F+)作电荷补偿,较大可能以(Os2-F+)形式存在.γ辐照前后水解处理样品的光吸收谱(VUV,UV,IR)和电子顺磁共振谱(EPR)验证了理论计算的正确性.综合理论和实验,我们认为OH-氧离子杂质引起BaF2晶体辐照损伤的主要原因是:OH-和(Os2-F+)辐照分解成Hs-(U心)和Os-.上海硅酸盐研究所在晶体生长工艺中,有意识地对OH-和氧离子给予特别的注意,在改进辐照损伤上获得较好的效果. 相似文献
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本文运用离散变分Xα(DV-Xα)方法计算了部分掺稀土离子BaF2的能级结构,提出经γ辐射后晶体中的Eu、Dy和Yb元素可由原来的+3价变为+2价,从而改变晶体的光学性能,这一模型可以很好地阐述对应的实验结果。 相似文献
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氟化钙晶体的抗辐照性能是其在深紫外光刻应用中的关键性能之一,目前氟化钙晶体在193nm激光辐照下的损伤过程尚不清楚。本文报道了193 nm激光辐照下氟化钙晶体的损伤行为及影响损伤的关键缺陷因素。通过193nm激光辐照试验,发现晶体损伤主要表现为晶体内部产生的辐照诱导色心与表面产生的辐照诱导损伤坑。通过紫外–可见分光光度计对辐照诱导色心分析,并将不同色心吸收系数与Y杂质含量进行线性拟合。结果表明:Y离子具有与F心结构波函数发生重叠的低位轨道,两者发生轨道杂化易形成色心稳定结构;线性拟合结果表明Y离子含量与氟化钙晶体本征色心之间存在线性关系,说明Y元素是影响色心形成的关键杂质离子。实验表征了辐照诱导损伤坑的元素分布和结构缺陷。EDS结果表明损伤坑处伴随着钙元素含量上升和氟元素含量下降,证实H心扩散、F心聚集导致了辐照损伤;EBSD结果表明表面辐照损伤优先在位错处产生。因此,降低杂质含量及位错密度是提高氟化钙晶体在193 nm激光下抗辐照损伤性能的重要途径。 相似文献
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通过在不锈钢化处理液中分别添加Cl^-、Fe^3+等常见化学杂质,对18-8不锈钢进行钝化处理,应用电化学方法测量点腐蚀临界电位等腐蚀参数,考察钝化液中化学杂质对不锈钢表面蚀化学处理效果的影响。 相似文献
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常见杂质离子对三价装饰铬电镀的影响 总被引:4,自引:1,他引:3
三价铬电镀液由于毒性小,镀液分散能力、覆盖能力和阴极电流效率等均优于六价铬电镀。因此,引起了人们的极大关注,但三价装饰铬不能使镀层任意增厚,镀层色泽发暗,镀液的稳定性受外来元素影响很大。本文研究了一些外来元素对甲-乙酸体系三价装饰铬电镀的影响。 相似文献
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杂质引起的各种缺陷,对锗酸铋(Bi_4Ge_3O_(12)简称BGO 晶体的光学质量产生严重影响。本工作利用透过光谱比较、光学显微术、扫描电子显微镜、电子探针分析等手段研究了这些缺陷的形貌和形成机理,也讨论了改善晶体光学质量的方法。 相似文献
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用150 eV高能氦(He)离子在400 K对多晶钨(W)表面的W纳米丝进行间歇式辐照并使用扫描电子显微镜、透射电子显微镜以及称重法等手段对其表征,研究了He离子辐照对W纳米丝演变过程的影响。结果表明,高能He离子辐照使W纳米丝极不稳定。随着辐照剂量的增加W纳米丝之间的交联程度逐渐降低。W丝内的He泡在高能He离子溅射的作用下破裂,使W丝塌陷合并,部分溅射出来的W原子沉积在近邻的W纳米丝外壁或W丝根部,最终使W纳米丝演变成顶部细根部粗的锥型结构。 相似文献
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同位素效应对铁中辐照损伤的影响 总被引:2,自引:0,他引:2
有关氦与辐照缺陷的相互作用已有不少系统性的工作,但对氢与辐照缺陷的相互作用的研究不多。特别是氢的同位素氘或者氚存在于核聚变反应堆中,关于氢的同位素效应对辐照损伤的研究工作很少。采用离子加速器在室温下对纯铁注入氘离子,经500℃时效1h后,研究了电子辐照下位错环的演变过程并讨论了同位素效应对位错环偏压的影响。实验表明,随辐照剂量的增加,空位型位错环的尺寸逐渐减小直至消失。由于注氘纯铁中的位错偏压小,其空位型位错环缩小的速率比注氢纯铁中空位型位错环小,由此可以推断注氘纯铁比注氢纯铁抗辐照损伤性能好。 相似文献
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采用离子束混合技术在不锈钢衬底上制备50%TiC-C薄膜,用剂量1×1018ions/cm2、能量5keV的氢离子对薄膜进行辐照.通过X射线光电子能谱对氢离子辐照前后的50%TiC-C薄膜进行组成元素化学结合能谱的分析,着重研究污染氧对薄膜氢离子辐照前后的影响.研究发现氢离子辐照会引入更多的污染氧进入膜内,但污染氧不影响薄膜的阻氢性能. 相似文献