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相似文献
 共查询到18条相似文献,搜索用时 93 毫秒
1.
以提高DWDM介质薄膜滤光片测量精度为出发点,对中心波长、插入损失等重要测量指标进行了误差分析,给出了提高测量精度的解决方案以及相应的测量统计数据.并对在手动法测量实验基础上,开发的OR350A型自动测试系统做了介绍,实测结果表明该测试系统比手动法测量明显地改善了测量精度.  相似文献   

2.
以提高DWDM介质薄膜滤光片测量精度为出发点,对中心波长、插入损失等重要测量指标进行了误差分析,给出了提高测量精度的解决方案以及相应的测量统计数据.并对在手动法测量实验基础上,开发的OR350A型自动测试系统做了介绍,实测结果表明该测试系统比手动法测量明显地改善了测量精度.  相似文献   

3.
DWDM窄带滤光片用高精度光学膜厚仪   总被引:1,自引:1,他引:0  
孙大雄  李正中 《光学仪器》1999,21(4):130-136
随着信息技术的发展对高密度波分复用(DWDM)滤光片的需要越来越大。而高精度性能的光学薄膜膜厚监控系统是制备DWDM滤光片的关键,文中论述了所建立的制备用100GHz~50GHz DWDM滤光片的高精度高性能的光学膜膜厚监控系统。该系统的波长分辨力的0.1nm,重复性精度为±0.05nm,信噪比与温度漂移特性分别±0.01%和0.05%/h。还论述了该系统的实际实验结果。  相似文献   

4.
DW DM窄带滤光片用高精度光学膜厚仪   总被引:2,自引:0,他引:2  
随着信息技术的发展对高密度波分复用(DWDM)滤光片的需要越来越大。而高精度高性能的光学薄膜膜厚监控系统是制备DWDM 滤光片的关键。文中论述了所建立的制备用于100GHz~50GHz DWDM 滤光片的高精度高性能的光学薄膜膜厚监控系统。该系统的波长分辨力为0.1nm ,重复性精度为±0.05nm 。信噪比与温度漂移特性分别为±0.01% 和0.05% /h。还论述了该系统的实际实验结果。  相似文献   

5.
HOM系列高精度光学膜厚监控系统的研制   总被引:1,自引:0,他引:1  
叙述了新研制的适用于 DWDM窄带滤光片成膜控制的高精度光学膜厚监控系统。该系统在光谱带宽 0 .1 nm条件下 ,暗噪声小于± 0 .0 0 5 % ,性能优于目前的报道。使用它已成功地实现了 1 0 0 GHz,5 0 GHz DWDM窄带滤光片全自动成膜监腔。由其派生出的HOM系列的其他类型光学膜厚监控系统 ,可适用于不同的优质膜的过程控制  相似文献   

6.
HOM系列高精度光学膜厚监控系统的研制   总被引:4,自引:2,他引:4  
龚健  孙大雄 《光学仪器》2001,23(5):96-104
叙述了新研制的适用于DWDM窄带滤光片成膜控制的高精度光学膜厚监控系统.该系统在光谱带宽0.1nm条件下,暗噪声小于±0.005%,性能优于目前的报道.使用它已成功地实现了100GHz,50GHzDWDM窄带滤光片全自动成膜监腔.由其派生出的HOM系列的其他类型光学膜厚监控系统,可适用于不同的优质膜的过程控制.  相似文献   

7.
龚健  孙大雄  李刚正 《光学仪器》2001,23(6):96-104
叙述了新研制的适用于DWDM窄带滤光片成膜控制的高精度光学膜厚监控系统.该系统在光谱带宽0.1nm条件下,暗噪声小于±0.005%,性能优于目前的报道.使用它已成功地实现了100GHz,50GHzDWDM窄带滤光片全自动成膜监腔.由其派生出的HOM系列的其他类型光学膜厚监控系统,可适用于不同的优质膜的过程控制.  相似文献   

8.
本文简述非接触表面微观形貌测量技术的发展概况,并对几种新型干涉测量仪器的工作原理和作了简单介绍。  相似文献   

9.
10.
阐述了镀制如100GHz、50GHzDWDM滤光片及GFF滤光片等滤光片的镀膜机必须具备的条件.介绍了本公司研制生产的NBPF-2型离子辅助蒸镀镀膜机.  相似文献   

11.
Development of DWDM Filter Manufacture   总被引:2,自引:2,他引:0  
1 Introduction  RapiddevelopmentofInternetdemandsalargevolumeofinformationtobetransmittedsi multaneously .Usingtimedivisionmultiplexing(TDM )technologyat 40Gbit/stransmissionratecanbeachieved ,itisalmosttheupperlimitoftheTDMtechnology ,butthistransmissionra…  相似文献   

12.
曹倩  刘德明 《光学仪器》2004,26(1):7-10
阐述了一种用VisualBasic编程,基于GPIB(通用接口总线)的软件测试系统。系统的功能是模拟ASE(宽谱光源)光源和光谱仪的作用,实现计算机控制自动测试DWDM(波分复用器)的某一个信道的光谱。介绍了自动测试系统的构成,详细阐述了软件的设计思想。  相似文献   

13.
DWDM系统中解复用器的原理与发展趋势探讨   总被引:1,自引:0,他引:1  
较为全面地叙述了DWDM系统中的各种形式解复用器,其中包括已经商用的和仍处于研究阶段的新方法,对DWDM解复用器的原理及类型作了介绍,进一步讨论了解复用器的现状与发展趋势。  相似文献   

14.
介绍了一种利用高性能矢量网络分析仪进行光纤色散测试的测量方法实现,文中详细介绍了矢网在色散系统中的应用以及色散测试系统各部件的选型设计,并针对密集波分复用光纤网络中应用的G.653、G.655光纤的具体测量方法进行了分析。  相似文献   

15.
自20世纪90年代DWDM系统商用以来,已迅速成为长途传输的主流方式.2000年以来,铁路以8横8纵为基础,相继建成了五大DWDM基础光传输网络环.如今伴随DWDM技术的广泛普及,传输网的维护与传统方式相比也有了较大区别.通过分析DWDM优势,以及铁路应用现状,结合相关文献和工作经验与大家讨论一下几种DWDM故障判断与定位的常用方法.  相似文献   

16.
An interference pattern produced by a simple optical set-up irradiating a curved surface with coherent light is presented. The pattern is formed where reflected light beams intersect, even far from the curved surface. This reflected light pattern can be used for measuring curved diaphragm profiles which are expressed by mathematical functions with points of infection.  相似文献   

17.
康岩辉  张恒 《光学精密工程》2011,19(11):2551-2557
针对超精密数控机床对圆锥量规锥度高精度测量的需求,研究了一种将“大数”和“小数”相结合,准确测量圆锥量规锥度的方法.介绍了锥度测量系统的基本原理及组成,给出了实验测量结果,分析了测量系统的不确定度.该测量方法利用最大分度间隔误差为0.10〞的多齿分度台构成高准确度分度系统保证测量“大数”部分的准确性,采用激光偏振干涉装...  相似文献   

18.
反射式光学系统中心偏的测量   总被引:1,自引:0,他引:1  
通过分析反射式光学系统的特点,在现有透射式光学系统中心偏测量仪的基础上,提出了适合该系统中心偏测量的方法,分析了球心像的观察条件,并推导出反射系统中心偏的计算公式,从而形成了一个完善的反射式光学系统中心偏测量体系。该方法能获得与透射系统中心偏测量相同的精度,操作方法也基本相同。  相似文献   

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