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在Paschen定律基础上,使用计算出的表面放电型ACPDP的击穿电压数据,拟合实验测得的ACPDP显示屏内Ne Xe混合气体的击穿电压特性曲线(Ub~pd),从而确定了击穿电压(Ub)和MgO介质保护膜有效二次电子发射系数(γeff)之间函数关系式中的相关参数,并由此关系研究了老炼过程对表面放电型ACPDP显示屏内MgO介质保护膜γeff的影响.结果表明,老炼开始时,击穿电压随着老炼时间的延长迅速降低,2 h后击穿电压逐渐趋于稳定.与此对应,MgO介质保护膜的γeff会随着老炼时间的延长迅速增大并在2 h后趋于稳定.当Xe的含量从0.5%升高到4%时,击穿电压会随着Xe的含量升高而升高,而γeff会随着Xe的含量升高而降低.本文使用的计算γeff的方法可以用于计算ACPDP屏内介质保护膜的γeff. 相似文献
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PDP器件中MgO薄膜二次电子发射系数γ的研究 总被引:3,自引:0,他引:3
结合等离子体显示器件 ( PDP)的放电机理 ,论述了 PDP中 Mg O保护膜的二次电子发射过程 :势能型发射和动能型发射。讨论了两种二次电子发射系数 γ的测量方法和装置 ,在此基础上 ,建立了一套简单可行的适用于 PDP样品的实验装置 ,文中给出γ值的测量结果。通过γ值的测试 ,可以反馈 Mg O保护膜的性能 ,为提高PDP性能提供依据 相似文献
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碳纳米涂层材料的二次电子发射系数及工艺研究 总被引:1,自引:0,他引:1
采用电泳沉积制备薄膜的方法,在铝合金镀银片上均匀的涂覆纳米碳涂层。研究了不同的电泳电压及电泳时间对涂层形貌结构的影响。扫描电子显微镜(SEM)、二次电子发射系数(SEY)测试结果表明,保持阴阳极间距为1cm,在30V的直流电压下电泳15min所获得的样片涂层均匀、连续、致密且具有明显的陷阱结构。实验表明,其SEY最大值σmax达到2.03,对应的入射能量为500eV,E1能量点在60eV。使用Ar离子轰击清洗表面10min后,样片的SEY最大值σmax达到1.76,对应的入射能量Emax为400eV,E1能量点在80eV。 相似文献
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超高真空测试设备配备的能量分析仪可分析材料表面发射的二次电子能谱,区分真正的二次电子和背散射电子,并通过对能谱积分求得真二次电子系数。本文以纯净银箔材料为例,将电流法测试的二次电子系数(SEY)与能谱分析结果进行对比,误差不超过6%,验证了电流法测试的正确性,并且分析了误差产生的原因。 相似文献
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提高微通道板(Micro-channel Plate,MCP)的综合性能一直都是器件使用性能提升首要解决的关键问题.纳米薄膜材料的发展及其制备技术的成熟为微通道板性能提升提供了契机,使用原子层沉积(Atomic Layer Deposition,ALD)技术,在微通道板的通道内壁生长一层A12O3薄膜作为高二次电子发射层,以增强通道内壁的二次电子发射能力,从而提升微通道板的增益性能.通过调节ALD沉积过程中的循环数,腔室反应温度和前驱体反应时间,分析工艺条件改变对MCP二次电子增益的影响.结果表明ALD沉积工艺参数对MCP二次电子增益有很大影响,使用适当的工艺参数,可得到具有高二次电子增益的MCP. 相似文献
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本文用一种简便的方法测定了MgO在同成份LiNbO3中的有效分凝系数Keh及其熔体中MgO浓度的关系。 相似文献
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在光子晶体垂直腔面发射激光器中采用质子注入工艺,使台面工艺变成纯平面工艺,降低了光子晶体结构制备难度,简化了器件制备,提高了器件的均匀性。质子注入型光子晶体垂直腔面发射激光器中的光子晶体结构,在电流限制孔小于光子晶体缺陷孔时,仍能控制器件光束及模式特性,该结果可用于优化器件阈值电流,制备高性能低阈值电流基横模器件。实验所设计制备的器件,在注入电流小于12.5 mA时,阈值电流2.1 mA,出光功率大于1 mW,远场发射角小于7,有效验证了光子晶体结构在质子注入型面发射激光器中的光束改善及模式控制作用。 相似文献
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By using correlation-detection technique and improving structure of the test tube,the background noise of thermionic-electrons and space charge effect are restrained.The sec-ondary emission coefficient δ of thermionic cathode at high temperature has been studied.Theδ of impregnated scandate cathodes increases exponentially with increasing temperature at lowenergy and current of the bombardment electrons;at high energy or current of the bombardmentelectrons the temperature has little effect on δ.The research shows that an enhanced thermionicemission occurred when the cathode works at high temperature and under electron bombardment.These phenomena are discussed in terms of “internal field model”. 相似文献
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扫描电子显微学中二次电子发射过程的蒙特卡洛模拟 总被引:8,自引:7,他引:1
利用蒙特卡洛模拟固体中电子散射轨迹的计算方法,系统地研究了扫描电镜中二次电子信号的发射过程。该模拟电子与固体相互作用的蒙特卡洛模型包含了级联二次电子产生的过程,并且采用光学介电函数方法描述电子的能量损失和相伴的二次电子激发。由于模拟计算可以给出背散射电子和二次电子的绝对产额,以及它们随加速电压和样品的原子序数的变化关系,因此可以用于模拟元素衬度和形貌衬度像。还计算得到了关于二次电子产生和发射的其它分布,并与实验结果作了比较。 相似文献
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A scanning electron probe is used to study the secondary emission properties of the im-pregnated barium scandate dispenser cathode, the influence of the activation on the secondary emis-sion property, the secondary emission image and the secondary emission distribution over the surfaceof the cathode. At optimal activation, δ_m=3.56 (E_(pm)=700eV). The activation has a larger effect onδ when the activation temperature is higher than 1100℃. The distribution over the surface of thecathode is non-uniform. The half-peak width of the distribution curve over the surface is 0.4. Theexperimental phenomena are discussed in relation to surface analysis of the cathode. The theoreticallyderived binomial distribution curves over the surface fit much better with the experimental results. 相似文献
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A microcomputerized measurement system is developed.This system automatically acquiresan I-V characteristic curve in 5 seconds with the accuracy of 0.05% FSR(full scale range).The Schottkyextrapolation field-free emission,the inflection-point emission,the flection-point emission,the average effec-tive work function.the Richardson work function,the work function distribution at the operation tempera-ture and other important information that reflects properties of cathodes are obtained by this system.The re-sults of analysing four types of cathodes demonstrate that this system is very suitable for measuring the activi-ty changes of the cathode in the processes of activation,ageing,poisoning and life test.It is proved that thissystem can also be used to monitor the actlvity of the cathode in the assembled tube by measuring a gridcontrolled travelling-wave tube. 相似文献