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《电子工业专用设备》1978,(1)
发明的详细说明本发明主要谈图形缺陷检查设备方面的问题,更详细地说就是关于检查半导体光掩模上的微细图形中所含有的针孔及残渣等缺陷的装置。在半导体器件的制造中,要进行杂质扩散及布线等使半导体衬底上形成各种图形。为了提高 相似文献
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日本公司最近推出了20MD—61型掩模缺陷检查设备。该设备对2μm条宽掩模进行缺陷检查,其分辨率为1μm。检查结果用打印机、绘图机和计算机外部输出。缺陷检查速度随掩模最小条宽(2μm、3μm、4μm、6μm)而变化,具有四种检查方式。掩模条宽为2μm时,检查速度为6.4秒/厘米~2,掩模条宽为6μm时,检查速度为0.8秒/厘米~2。该设备可检查的掩模的最大尺寸为500×500毫米~2,最大测定范围为480×480毫米~2,可检查的掩模厚度为10毫米。该设备使用100伏30安的电源。 相似文献
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本研究的最终目的,在于建立热成像传感器的全自动鉴定设备。图1的方框图示出如何组成一台设备来完成一项测试,如最小可分辨温度差(MRT)测试或信号传递函数(SiTF)测试。红外传感器置于适当红外靶标的准直像空间中。靶标相对于背景(环境)温度的温差(AT),系由计算机根据操作者从终端设备输入的指令来控制。除控制靶标的△T外,计算机还将控制适当靶标图形的选择,并执行其他 相似文献
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红外被动系统可以分成两大类:(1)诸如搜索、跟踪和成象等扫描系统;(2)分光计、辐射计和干涉仪等测量系统。扫描系统在指定的视场内对辐射强度的分布进行扫描和取样。其输出可以是此分布的一个线性模拟信号,供成象用,也可以仅指示目标的存在及其位置,如在搜索-跟踪应用中那样。测量系统对入射在系统上的辐照进行测量。测量可以仅仅是在某一固定带宽内测出辐射强度,也可以是在一可变中心带宽内连 相似文献
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近年来,主要研究领域之一是红外图象的信号处理、图象处理和识别。红外成象的最主要的应用是:遥感、无损检测、目标指示和分类、节能、光学检查和遥测、医学成象和诊断、生产过程控制等。为此,研制一种红外成象探测系统是十分必要的。对于低成本、高速和商业化红外成象与目标分类系统,目前的趋势是采用高密度红外镶嵌探测器技术与CCD和信号处理电路相结合,它标志着红外技术发展的高级阶段。 相似文献
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一种新型毫米波成象系统已装备在海军研究实验室,并用 NASA/Wallops C—54飞机进行了飞行试验.该系统装有一个摇摆镜和几个可互换的辐射计装置,使得系统特别适应于其工作频率,极化强应和角分辨率的变化.已对该系统做了90GHz 的飞行试验,同时也在22和31GHz 上用一个双频率辐射计进行了飞行试验.本文叙述了成象系统和数据处理,而且介绍了一些在90GHz 进行初次飞行所得的试验结果. 相似文献
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美国Inframetries公司生产的这种红外热成象系统用两个扫描镜和一碲镉汞探测器(8~12微米)扫描目标景象。510型可在10℃、50℃和200℃三种温度范围使用,在每个温度范围内可得到的对比度范围为4:1。 相似文献
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本文考虑了热成象系统的光学系统、探测器、电子线路、显示器诸分系统的传递函数计算的原则。提出了在“假设”忽略采样过程对传递函数影响时,热成象系统的传递函数计算。提出了用电子学的方法改善热成象系统传递函数及图象增强的可能。以某一具体系统为例,计算了热成象系统的传递函数。 相似文献
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本文分析了GSM-R系统DNS设备域名解析失败的原因,以广铁集团在运行维护中存在的DNS设备域名解析失败问题为例,对存在的数据进行了详细分析,具有一定参考价值. 相似文献