原子力显微术

本文首先介绍了原子力显微术的基本理论，其次讨论了原子力显微镜的结构原理，主要报导了一台我们研制的使用光学偏转法检测的原子力显微镜及仪器性能，仪器测试的结果表明我们这台原子力显微镜获得了原子分辨率，最后给出使用这台显微镜的首批实验结果。     

利用微电机系统传感器实现光学互连

法国研究人员演示了一种用氮化硅批量制作的微机械支架，将其同时用作光学探针、波导和原子力显微镜（AFM）触头，形成直径50nm的光学连接。继续加以发展，这种结构最终可能用于对光子晶体等纳米结构器件进行光学寻址。由于能同时进行近场和原子力测量，还可能推动显微术的发展。该连接结合了两种技术，即原子力显微术和近场光学显微术。原子力显微术即用小而轻的支架在距物体表面足够近的地方扫描，利用被观察物与支架间原子力造成的吸引和排斥，记下支架的偏转，即可得到物体表面轮廓。如控制得当，支架触头越小，该法的分辨率就越…     

扫描探针声显微镜原理及其应用

将声学检测技术与扫描探针显微术相结合,构成的扫描探针声显微镜,不仅可以检测材料表面、亚表面和内部的微小缺陷,还可以分析样品的弹性特性、电特性等物理性能,同时还具有分辨率高的特点,在材料科学和生命科学等领域具有很高的应用价值.目前,得到实际应用的扫描探针声显微镜主要有扫描隧道声显微镜和原子力声显微镜.本文介绍了这两类显微镜的基本工作原理,并对扫描探针声显微镜今后的发展方向进行了探讨.     

原子力显微镜的力传感器

原子力显微镜已成为人们观测和研究物体微观世界的强有力工具，由悬臂梁与探针集成件（Ｃａｎｔｉｌｅｖｅｒｓｔｙｌｕｓ）组成的力传感器是原子力显微镜的一个关键部件，它的结构和性能直接影响原子力显微镜的性能、测量分辨率和测试图象质量。本文着重介绍了原子力显微镜基本工作原理、对力传感器的要求、力传感器的结构和设计、力传感器的微机械加工以及其主要性能测试等问题。     

原子力显微镜及应用

原子力显微镜及应用张亦奕，贺　节，商广义，姚骏恩（中国科学院北京电子显微镜实验室，北京１０００８０）八十年代后期问世的原子力显微镜（ＡｔｏｍｉｃＦｏｒｃｅＭｉｃｒｏｓｃｏｐｅ，简称ＡＦＭ）是观察表面形貌的一种新型扫描探针显微镜。它不仅能像扫描隧道显微...     

原子力显微镜在页岩微观孔隙结构研究中的应用

正确认识页岩微观孔隙结构特征是研究页岩气赋存状态、渗流机制和资源评价等问题的基础。运用原子力显微镜观察川东南地区志留系龙马溪组黑色页岩表面的微观孔隙形态,分析了页岩原子力显微镜成像的影响因素,确定了最佳实验条件,最终实现了页岩5种类型的表面形态图像。在此基础上,重构了页岩表面的三维图像,并定量分析了孔隙的大小和深度。与扫描电镜图像相比,原子力显微镜不受样品导电性的影响,图像呈现页岩有机质内部的结构信息更清晰。因此,原子力显微成像可作为扫描电镜成像的有力补充,在进行扫描电镜测试之前,先进行原子力显微成像能够获得更多的样品表面信息,使得研究页岩微观孔隙结构的手段更为丰富。     

基于原子力显微镜的悬臂梁微尖端器件应用新进展

在分析原子力显微镜工作原理的基础上,详细介绍了各种基于原子力显微镜的悬臂梁微尖端器件的应用进展,并展望了悬臂梁微尖端器件的发展前景。     

原子力显微镜及其在激光作用DNA的结构研究中的应用

本文描述了原子力显微镜的基本原理与特点，对原子力显微镜在激光作用ＤＮＡ的结构研究中的成功应用作了介绍。     

扫描探针显微术

扫描探针显微术(Scanned—Probe microscopy, SPM)是在扫描隧道显微术(Scanning tunneling microscopy, STM)基础上发展起来的各种新型探针类显微术的总称,它包括原子力显微术(AFM)、磁力显微术(MFM)、静电力显微术(EFM)以及扫描热显微术等,它们的出现对表面科学、材料科学、生命科学以及微电子技术等众多领域的研究有重大意义和广阔的应用前景,被国际科学界公认为80年代世界十大科技成就之     

绿茶多糖的扫描电镜制样新方法及原子力显微镜观察

利用扫描电镜（SEM）和原子力显微镜（AFM）对绿茶多糖及酶解绿茶多糖试样进行显微成像,得到颗粒状或由单个颗粒聚集成的形貌结构。结果表明：改进制样方法的扫描电镜观察结果与原子力显微镜成像基本一致,说明了改进后的扫描电镜制样方法是一种简单有效的方法。实验结果还在一定程度上解释了绿茶多糖经酶解后其微观形态的变化情况。