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何红丽 《计算机与数字工程》2015,(6)
随着雷达天线、通讯天线靶面的减小,靶面与载机机械安装定位面相对姿态精度要求提高,短基线微小角度测量难度越来越大,为此研究一种基于全站仪的非接触光学检测方法,解决短基线高精度姿态测量问题。给出了基于自准直靶面姿态测量的原理、操作方法、数据处理方法及精度检测。该方法已成功应用在某型飞机小靶面高精度姿态测量中,取得了很好的效果,可推广应用在其它小靶面姿态测量任务中。 相似文献
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自准直仪是检测平面镜小角度变化的设备,在光学机密机械检测中起着很重要的作用。根据自准直仪的通讯协议,为自准直仪开发一套能够在与其它设备时间统一条件下工作的软件,使自准直仪能够满足特定条件的需要,而且实现了自准直仪的远程控制,使自准直仪更加智能化。 相似文献
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《计算机测量与控制》2014,(4)
设计了一种新型便携式CCD自准直仪图像测量系统,采用面阵CCD工业相机接收光学系统图像,通过USB3.0数据线将输出的图像数据传送到平板电脑中,利用自行开发的图像测量软件对其进行亚像素级精确测量,计算出双轴角位移信息并在人机界面上实时显示;其中,CCD工业相机通过USB3.0数据线供电,自准直平行光管光源可由电池盒供电,图像测量软件可进行绝对测量和相对测量,以及采集和保存双轴角位移信息;实验结果表明,系统有效量程±850"×±600",分辨率0.01",示值最大误差0.3",漂移0.2"/2h,此外,在无外接交流电源情况下可工作1.5~2h,人机界面上的所有功能均可通过手动触摸操控,整体上便携性和实用性强,性价比高,操作便捷,且开发过程简单。 相似文献
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贾娜 《电脑编程技巧与维护》2021,(12):123-124,153
随着先进光学仪器、精密测量技术的迅速发展,通常利用接触式、非接触式检测方案,对某些光学元件表面存在的缺陷问题进行人工或自动识别.提出了基于光电测量技术的光场复振幅识别、表面轮廓特征识别方案,结合Harris算子角点识别方法,对光学元件涉及到的尺寸、纹理、缺陷位置、缺陷梯度等数据参量,展开全方位的表面检测与识别,自动缺陷识别的误识率小于1%、漏识率小于2%,在识别效率、识别精度方面具有较大优势. 相似文献
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锁建军 《电子制作.电脑维护与应用》2013,(4):38
光电检测技术是一个电子技术与光学技术紧密结合在一起的一个新兴的检测技术,具有二者的优点,在光电光电检测系统中光电器件紧密连接一个低噪声前置放大器,它的任务是:放大光电探测器件所输出的微弱电信号;匹配后置处理电路与探测器件之间的阻抗。对前置放大器的要求是:低噪声、高增益、低输出阻抗、足够的信号带宽和负载能力,以及良好的线性和抗干扰能力。针对不同类型的光电检测系统的相应的前置放大电路的种类不同有T型网络前置放大电路、差分式前置放大电路、双运放前置放大电路、高阻型前置放大电路,低阻型前置放大电路等等。 相似文献
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Kyoji Kariya Yoshikazu Kanazawa Tadatsugu Hirose 《Journal of the Society for Information Display》2002,10(1):11-16
This paper describes the Alternate Lighting of Surfaces (ALIS) method as a promising drive technology which can lead to high‐resolution plasma‐display panels (PDPs). This technology provides a resolution of more than 1000 scanning lines without lowering luminance, thus enabling the essential requirements of HDTV. Moreover, it allows the number of scanning electrodes to be halved in comparison with the conventional method, as well as the circuit scale to be minimized due to the use of the single scanning drive. The ALIS method is expected to be a key technology that will help PDPs penetrate the TV market. 相似文献
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X射线波带片是纳米X射线成像系统的核心元件之一,为了研制高分辨率X射线波带片,对纳米结构的电子束光刻和高精度电镀进行了实验研究。首先,通过对电子束曝光工艺版图进行优化设计,平衡了邻近效应对纳米结构的影响,有效地控制了光刻胶的扭曲和坍塌。实验结果表明,采用校正的工艺版图,用线曝光方式在800pC/c m2剂量下可以研制出厚度为270nm、最外环宽度为50nm的高分辨率X射线波带片光刻胶结构。然后,在配制的柠檬酸金钾电镀液中,优化了电镀工艺参数。采用金含量为10%的柠檬酸金钾电镀液,各电镀参数PH值为4.2,电镀温度为50℃,电流密度为0.2A/dm2电镀出高分辨率X射线波带片。 相似文献
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阐述了光电探头线性测量原理和方法,提出了基于双光源叠加法,利用积分球混光完成辐照度叠加,测量了超高亮LED随内部电流变化的光谱特性,测量结果证明:辐照光源使用超高亮LED的可行性。设计中以计算机编程自动控制实现智能化和自动化完成光电探测器的线性测量为宗旨,对系统的各部分结构、原理、特点及创新性进行分析。讨论了测量系统的不确定度来源与处理方法。对硅光电探头进行多次线性测量,重复精度优于±0.5%,测量结果证明:该系统设计自动化程度和精度较高,可以作为光电探测器线性测量装置。 相似文献
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