双色红外系统测量脆性材料磨削温度的研究

用光纤辅助双色红外探测仪研究了金刚石砂轮磨削花岗石和陶瓷过程中接触区的温度特征，研究结果表明：和单色系统相比，双色红外系统除了温度之外还可得出磨削条件下所对应的被测物体的发射率，接近工件表面的温度测量结果由于受测温用盲孔的影响会偏高，因此，红外温测系统适用于直接测量工件表面下方一定距离外的温度变化，而工件表面温度则用拟合方法得到能量传入工件的比例后再通过理论计算得出，由于可以得到能量的传输比例，磨削温度测量对理解工具与工件界面的传热机制具有重要意义。     

双色红外系统测量脆性材料磨削温度的研究

用光纤辅助双色红外探测仪研究了金刚石砂轮磨削花岗石和陶瓷过程中接触区的温度特征.研究结果表明和单色系统相比,双色红外系统除了温度之外还可得出磨削条件下所对应的被测物体的发射率.接近工件表面的温度测量结果由于受测温用盲孔的影响会偏高.因此,红外测温系统适用于直接测量工件表面下方一定距离外的温度变化.而工件表面温度则用拟合方法得到能量传入工件的比例后再通过理论计算得出.由于可以得到能量的传输比例,磨削温度测量对理解工具与工件界面的传热机制具有重要意义.     

利用先进的热电偶和高分辨率△-∑ADC实现高精度温度测量

引言 热电偶广泛用于各种温度检测。热电偶设计的最新进展,以及新标准和算法的出现,大大扩展了工作温度范围和精度。     

温度引起的ZnSe/Zn_(0.84)Mn_(0.16)Se超晶格中势阱层和势垒层的反转

测量了ＺｎＳｅ,Ｚｎ０．８４Ｍｎ０．１６Ｓｅ合金和ＺｎＳｅ／Ｚｎ０．８４Ｍｎ０．１６Ｓｅ超晶格的１０～３００Ｋ的变温光致发光谱．发现ＺｎＳｅ的带隙在１０Ｋ时比Ｚｎ０．８４Ｍｎ０．１６Ｓｅ合金的带隙小,而在３００Ｋ时比合金的带隙大．预计ＺｎＳｅ／Ｚｎ０．８４Ｍｎ０．１６Ｓｅ超晶格中在１３０Ｋ附近会发生势阱层和势垒层的反转．在ＺｎＳｅ／Ｚｎ０．８４Ｍｎ０．１６Ｓｅ超晶格中观测到了这种反转但发生在８０Ｋ附近．超晶格中Ｚｎ０．８４Ｍｎ０．１６Ｓｅ层的应变可能是反转温度变低的原因．     

关于举办“国际先进光电材料实物展览”的通知

第二届国际先进光电材料创新会议将于2008年7月6日至9日在上海召开。届时将有近20个国家的近200名光电材料和器件专家参加会议,并就电子材料、半导体材料、多铁性体与磁电材料、光电材料与器件、晶体材料、陶瓷材料、薄膜与厚膜材料、传感器、及其设备等主题进行广泛交流。为了给广大用户与生产厂商搭建沟通和交流的平台,经会议组委会研究,将在会议期间举办"国际先进光电     

构成“直接读出”温度探头的IC和DMM

对于电子线路的故障排除和调试,图1中的简单温度测量探头可充当一种不可缺的工具。如需测量几个点的温度,可为IC1(Maxim MAX6610)配备一个探头,或者可以永久地将一个或多个器件整合到印制电路板上,或把它们连接到各个元件。电阻器R1、R2、R3把电路的温度定标电压输出设定为各个值(表1)。图2展示了电路在各个温度的代表性输出。     

飞兆半导体功率开关（FPS）技术超越“能源之星”的消费电子和家用电器应用要求

消费电子和家用电器制造商需要能够减少外部组件数目，提高可靠性，同时满足或超越现今严苛的节能规定要求的离线开关模式电源解决方案。     

飞兆半导体功率开关(FPS~(TM))技术超越“能源之星”的消费电子和家用电器应用要求

<正>消费电子和家用电器制造商需要能够减少外部元件数目、提高可靠性,同时满足或超越现今严苛的节能规定要求的离线开关模式电源解决方案。为帮助设计人员满足这一要求,全球领先的高性能功率和便携产品供应商飞兆半导体公