中子活化分析应用软件包SPAN

SPAN V2.0是一个用于中子活化分析的软件包,它是在CANBERRA S80多道—PDP11/34计算机系统上发展研制的。这个软件具有以下特点:     

中子活化分析中钐与铀的相互干扰

在钐与铀的不破坏中子活化分析中主要测量46.4小时~(153)Sm的103.2keVγ的光峰和56.4小时~(259)Np的277.6keVγ的光峰。但是,在~(239)Np的衰变中,由于内转换还有较大的几率发射99.5与103.7keV的X射线(~(239)Pu),它们与~(239)Np的106.1keVγ严重干扰钐的测量。用SCORPIO/SPECTRAN软件包中的γ谱单峰分析程序分析由SCORPIO-3000计算机程控Ge(Li)γ谱仪测得的经中子活化的纯铀的γ(X)谱,在所得的结果中,     

二辛基硫醚在贵金属元素分析上的应用 Ⅰ.地质样品中痕量银的中子活化分析

本文研究了二辛基硫醚的萃取性能并将其用于地质样品中痕量银的中子活化分析(NAA)。将地质样品于反应堆(中子通量为(4-7)×10~(13)n/cm~2·s)中照射200h,冷却一个月以上,用HF-HNO_3-HClO_4分解样品,于1N HNO_3介质中用0.2M二辛基硫醚-氯仿溶液萃取,有机相作Ge(Li)γ谱分析,用相对比较法求出样品中银含量。化学产额为92％。分析了水系沉积物、岩石和土壤标样,测得银的含量范围为0.023-4.35ppm,实际样品的测定精密度在±15％以内。     

大样品中子活化分析中的若干问题

由于中子活化分析（NAA）具有灵敏度高、准确度好以及非破坏样品和多元素同时分析等优势,几十年来,中子活化分析广泛用于工农业生产和科研工作中。通常中子活化分析的取样量一般为毫克到克级或微升到豪升量级,前提是在均匀条件下,根据所测定的元素含量或者样品种类来确定。然而,在一些特殊情况下,取样量在克级以下得不到所期望的结果。     

用实验峰形函数拟合Ge(Li)γ谱

在SPAN Ge(Li)γ谱分析程序中,使用了一种行之有效的峰拟合技术。这个技术不用任何的理论峰形,而是采用一系列实验测出的单峰峰形。实践证明此算法比一般高斯函数拟合法具有较好的拟合优度,而且也比较节省时间。     

煤及其灰分中41个微量元素的中子活化分析

用仪器中子活化分析测定了煤及其灰分中的微量元素。在使用程控高分辨率Ge(Li)γ谱仪的基础上,选择三种照射时间(100秒,1.5小时,20小时)及相应的“冷却”时间,分别测定短、中、长寿命核素,较好地避免了各核素间的能谱干扰,非破坏测定了41个微量元素。还用本法分析了美国国家标准局煤标准参考物(SRM-1632a),其测定结果与NBS值及其他文献值互相符合。     

Ge(Li)γ谱本底的直接扣除法

本文介绍了一种直接扣除峰下本底的技术,这个技术已在《SPAN Ge(Li)γ谱分析程序》中得到成功的应用。这个方法是积分峰本底技术的完善和发展,它对于十分复杂的包含有多重峰的Ge(Li)γ谱也能得出合理的本底线,并且能从γ谱中直接扣除。     

中子活化分析法测定高纯硅中的痕量杂质

一、前言随着半导体工业的发展,对硅单晶的纯度要求越来越高,硅单晶中的杂质水平,一般在ppb级以下。因此,硅单晶中痕量杂质的分析,用一般的化学分析方法已不能满足要求。目前,多采用灵敏度高的中子活化分析方法。本工作采用非破坏性的中子活化分析方法,分析了不同硅材料厂提供的硅多晶和区熔硅单晶样品,给出了Cu,Na,Au,La,Ga,Sb,Cr.Sc、Fe、Ni、Zn.Ag.Cs、K.Ce等十六种杂质元素的含量或探测极限值。