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本文介绍了高场强电磁兼容安全裕度测试工具的一个替代技术:直接电流注入技术。文中通过理论计算和试验测试,分析和验证了直接电流注入技术中注入功率与产生场强的关系及直接电流注入技术模拟高场强辐射场的可行性,为进一步研究和应用直接电流注入技术提供了依据和基础。 相似文献
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本文论述了与用于测试真空断路器的合成试验电路有关的EMC问题,并指出了处理电磁干扰的解决方法。合成试验电路通常使用一台旋转电机作能源。然而,为了形成一个50Hz频率的试验电路,本次研究应用了一个串联谐振电路,该电路由一个电容器组(最大含能量为2.4MJ)和与之相配的空气线圈连接而成。由于试验装置需要占有空间,所以电路中所有的组成部分都被安置在三个与绝缘套管和高压单导线电缆相连的房间内。大电流(达25kA)产生对测试仪器和其它附属装置有影响的强磁场,因此而产生的感应电压可能导致测量误差,甚至毁坏电子设备。为了将这种影响减小到最低限度,采用了许多不同的测量方法,以防止设备感应过电压和减小电感耦合,例如将测量信号通过光导纤维传输到一个屏蔽室内,以及实现无任何回路接地。重新设计后,设备的干扰电压被减小到了可以接受的数值。 相似文献
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离子注入机的EMC技术研究 总被引:2,自引:1,他引:1
本文在理论联系实际的基础上就离子注入机的电磁兼容性(EMC)问题进行了初步的研究。分析了离子注入机中的噪声干扰状况;提出了离子注入机中几个实际的噪声干扰模型;比较系统地介绍了离子注入机中常用的EMC技术及其实施措施。 相似文献
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电流探头注入替代辐射场的电磁敏感度自动测试技术 总被引:3,自引:2,他引:1
本文主要论述了电流探头注入替代辐射场的电磁敏感度测试方法、可行性及采用通用计算机控制的自动测试系统的硬件组成、2软件实现方法和实际测试的可能性。 相似文献
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在飞机级高强辐射场(High-intensity radiated fields,HIRF)试验中,直接电流注入(Direct current injec鄄
tion,DCI)法是一种用于在低频段替代辐射场照射法的试验方法。根据两种试验方法在电缆端口上电流响应结果的
等价性,通过传递函数建立了辐射场场强与直接注入电流间的关系式。在此基础上,采用数值仿真的方法模拟计算
了一个机体模型内部各电缆端口上的电流传递函数,并进一步确定了DCI 法所需的注入电流值。该方法对于飞机
级HIRF 试验的开展具有重要的指导意义。 相似文献
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针对目前实验室条件下高强度辐射场无法构建,单一辐照法难以有效开展系统级电磁辐射敏感度及安全裕度试验的问题,对互联系统注入法等效替代电磁辐照法的试验技术进行了研究.以设备端口的响应电压相等作为等效依据,推导了注入电压与辐照场强之间的等效对应关系,确定了强场条件下注入电压源线性外推应满足的条件,提出了基于耦合模块的等效注入试验新方法.在理论分析的基础上,以典型非线性互联系统为受试对象,分别开展了单频连续波辐照与注入试验研究,结果表明:辐照场强和等效注入电压源之间为线性变化关系,替代高场强辐照试验的等效注入电压源可以采用低场强下的对应关系线性外推得到,试验结果验证了注入等效替代辐照试验方法的有效性. 相似文献
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线缆是互联系统的重要组成部分,受到连续波强场电磁辐射时,线缆对终端设备的影响是不可忽略的.文中针对三芯线非线性互联系统,以终端设备响应相等作为等效的依据,证明了将等效注入激励源进行线性外推的方法,获取与强场辐射等效的注入激励源,进而可与强场电磁辐射实现等效,建立了等效注入激励源和辐射场强之间的线性外推模型,并进行了试验... 相似文献
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R. Picos M. Roca E. Isern J. Segura E. García-Moreno 《Journal of Electronic Testing》2000,16(3):235-241
In this work experimental results on a built-in current sensor for dynamic current testing, i(t), based on integration concepts are presented. The experimental validation proposed in this work is done through a VLSI CMOS circuit implemented in a 0.7 m technology. Different experiences have been developed analyzing the detectability of several kind of defects through this technique. The encouraging results obtained present this technique as an attractive complement to boolean and I testing. 相似文献
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