市场指南

在NEPCON'97上海展览会上,HP电路板在线测试系统尤其令人注目。会上,据HP生产制造测试部的市场经理Jim Hutchinson介绍说,在此次展会上,HP向中国工程师介绍和展示了最新的测试技术,其中包括HP3273综合在线测试系统上的“快克”测试方案、HP3279通信产品功能测试系统及专门用于自动故障诊断的“故障侦探功能”,和计算机演示的HP5DX系列X光检测系统的测试过程及测试结果。     

HP公司推出VXI基础测试系统价格比分别购买各部件低百分之二十

HP公司于1998年12月1日发布了作为功能测试系统基础,基于VXI系统产品系列的头两个产品。HP E8751A和HP E8754A基础测试系统的价格比分别购买各部件要低百分之二十。 HP E8751A基础测试系统提供绝大多数功能测试应用所需的基本部件。HP E8754A大功率基础测试系统带有更多的可选件,能使测试开发人员构建复杂的功能测试系统。 HP公司测量系统部市场经理Bethanne Stolte     

PCB维修测试中的在线功能测试技术研究

文章阐述了在线功能测试技术在电路板测试维修中遇到的影响测试准确率的几个典型问题并给出相应的解决办法,同时指出在线功能测试自身的局限性并提出了弥补这一局限性的智能化Ⅵ曲线扫描技术。     

CDMA/GSM手机在线功能测试

本文提供了一种利用无线测试工具包对CDMA／GSM手机进行功能测试的方法，此工具包是VI Servicee Network开发的产品。手机功能测试包括了很多参数的测量。本文中以CDMA手机的校验测试和GSM手机各特征参数测试为例，验证了我们手机测试系统的有效性和准确性。在CDMA手机的校验测试中，我们主要根据发射器／接收器功率与手机内部寄存器的初值是否一致来判断校验结果的正确性。在GSM手机测试中，我们通过时域、频域和调制域各种参数的测量验证了本手机测试系统的准确性。最后我们介绍了信威公司使用本系统在生产线测试的实例，进一步证明了我们的手机测试系统在大规模生产测试方面广阔的应用前景。     

CDMA／GSM手机在线功能测试

手机功能测试包括了很多参数的测量。文章介绍了一种利用无线测试工具包对CDMA/GSM手机进行功能测试的方法,以CDMA手机的校验测试和GSM手机各特征参数测试为例,验证了手机测试系统的有效性和准确性。在CDMA手机的校验测试中,主要根据发射器/接收器功率与手机内部寄存器的初值是否一致来判断校验结果的正确性。在GSM手机测试中,通过时域、频域和调制域各种参数的测量验证了手机测试系统的准确性。文章最后介绍了一个系统在生产线测试的实例。     

环路增益对光纤电流互感器测量准确度的影响

建立了光纤电流互感器的离散动态模型,理论分析了互感器比值误差及相位误差与系统环路增益之间的关系,确定了环路增益漂移是导致互感器长期运行精度劣化的主要原因之一。提出了一种环路增益在线监测方法,能实时检测环路增益的变化,监测值可以作为互感器长期运行的故障监测点之一。在此基础上实验验证了模型的正确性,结果表明:在保证静态测试精度的条件下,系统环路增益取值越大,环路增益波动对互感器比值误差和相位误差的影响越小。系统环路增益取值为0.05时,为保证长期运行互感器测试准确度不超过误差限值要求,环路增益波动应不超过10%。     

泛华测控推出电子产品通用功能测试系统

日前，北京中科泛华测控推出了一款采用虚拟仪器技术开发的“电子产品通用功能测试系统”，用于生产线上各种电子产品的功能和电气性能测试，如电路板成品（PCBA）、电子产品部件／组件的在线测试。在实际使用中，相关技术人员只需将被测产品、外接设备与系统连接，并按测试要求做简单的编程即可完成所需的自动测试，使产品换线迅速，从而适应生产线的柔性生产并降低测试成本。[第一段]     

泰瑞达为在线与功能测试推出一体化、统一的生产测试平台

1999年4月26日中国上海电:泰瑞达公司(纽约股票交易所代号:TER)今天在此间举行的NEP-CON展览会上推出了印刷电路板生产线在线与功能测试一体化的通用生产测试平台。Spectrum生产测试平台覆盖了全部电路板测试应用,包括传统的在线测试(ICT)、在线工艺测试、一步测试(ICT加功能)、高性能数字功能测试及基地诊断与维修。Spectrum还为满足专用测试如ADSL用户板与调制解调器的需求提供了灵活的平台。     

基于ATE的SRAM测试

随着集成电路技术的飞速发展,SRAM的应用越来越广泛,其测试技术也得到了广泛的重视和研究。简要介绍了SRAM的重要组成部分,提出了一种ATE对SRAM测试的方法。SRAM的测试有功能测试、直流参数测试、交流参数测试,功能测试和交流参数测试对存储器来说是至关重要的。以IS61LV51216-10TLI为例,其功能测试是通过Ultra Edit软件编辑生成测试码,对被测器件各个不同存储单位进行读写操作,以检查其功能。主要论述了SRAM功能及交流参数的测试关键技术及其注意事项。     

SRAM存储器动态参数测试向量分析

半导体存储器一般由存储体、地址译码驱动器、读/写放大器和控制电路组成,是一种能存储大量信息的器件,它是由许多存储单元组成的。半导体存储器的测试有功能测试、直流参数测试、交流参数测试,而功能测试和交流参数测试对存储器来说是至关重要的。SRAM(静态随机存储器)的功能测试是通过算法图形发生器产生不同的测试图形,对被测器件各个不同存储单位进行读写操作,以检查其功能。主要讲述了SRAM交流参数测试原理及其测试关键技术,介绍了SRAM交流参数测试的故障模型。通过研究SRAM交流参数测试图形向量,给出了SRAM交流参数测试图形向量的优化方法。     

基于采集相位的瞬时测频技术

介绍了通过采集接收信号的相位参数,利用对采集信号的相位参数进行双回路解调和选用高速率数字信号处理器(DSP)构成的瞬时测频技术,适用于雷达侦察测频系统。讨论了随机相位波动产生频率误差,给出了在测量频率范围内随机相位波动产生的频率误差的最大均方根值误差。     

FAST电路板功能测试系统的设计与实现

作者参加研制的FAST电路板功能测试系统,是可编程的、快速、自动电路板功能测试设备,用于对各种型号电路板的各项功能和参数进行快速测试。FAST电路板功能测试系统采用了当今自动测试测量系统设计的主流技术:PXI总线技术、虚拟仪器技术和模块化设计,技术体制先进,应用范围广,具有开放的系统架构。本文详细介绍了FAST电路板功能测试系统的设计和实现。     

超低副瓣天线测试中系统相位误差的仿真分析

文章利用计算机仿真的方式分析了平面近场测试中系统相位误差对超低副瓣天线副瓣的影响。通过建模分析,得到了系统相位误差对-50d B副瓣影响的量级,为超低副瓣天线测试中误差的分析提供一定的理论依据。     

在线测试技术综述

电子产品的生产制造要经过多道工序,元器件进厂检验、光板测试、插装、贴片、波峰焊(回流焊)、板测试及系统测试。而随着产量的加大,进入市场要求时间短,板测试越加显得重要,测试技术也越来越发展。板测试主要分为:板的功能测试和在线测试。板的功能测试即:在板的输入端施加输入信号,而在板的输出端接检测仪表,检测板的功能是否正确。功能测试可以使故障覆盖率相当高,接近100％,但查出故障以后定位比较困难,要借助辅助工具,定位故障时间也相应加     

一种相位测试用曲口面天线的设计与应用

相位测试技术可满足不同外形天线罩的在线测试需求。通过数值仿真,设计最佳变换曲线完成矩形 传输波导与圆形辐射天线的拟合连接,能够有效降低天线驻波比,实现测试探头的高增益收发,提升测试有效性。 在维持驻波比参数前提下,对天线口面弧线给予二次曲率调整,可以适应不同外形天线罩的测试稳定性要求。根据 仿真结果加工的低驻波比反射相位测试天线,已应用于多个型号天线罩成型中的相位在线测试,提高了监控的有效 性,验证了设计仿真结果的正确性。     

直接数字频率合成器（DDS）测试方法研究

分析了DDS器件的接口特点,以GM495X为例,研究了DDS器件的功能测试与参数测试方法。通过扩展GPIB接口的方法,实现了在Verigy93000自动化测试平台上进行DDS参数测试。并实际验证了测试方法的有效性,对测试中需要注意的问题进行了归纳。对其它集成电路产品的设计、检测有参考价值,同时对verigy 93000 SOC自动测试平台的扩展方法也有借鉴意义。     

基于C#.NET的光通讯产品测试系统开发

在以Microsoft.NET为测试系统的开发平台上,结合C#语言和.NET技术,设计了大容量光交换产品的功能测试系统。该系统的投入和使用体现出C#.NET开发系统的强大优势,优化了测试系统框架,提升了系统的管理和使用效率,统一的测试系统框架下,升级产品的测试系统开发效率可以有效提升。     

用在线自动测试设备ATE进行射频电路测试

找出射频线路板的故障是很困难事情。特别是在大批量生产的环境中更是如此。然而在Lucent Technologies公司(前身为AT＆T公司的网线系统Wetwork Systems部),我们已开发出了一种被称之为MIND(微波在线诊断者)技术,它首先用在线ATE进行在被测电路上能做到的尽可能多的常规的无源在线测试,然后对被测板施加电源从而找出可能故障并在功能测试前对产品进行筛选。     

非接触式IC卡硬件驱动层的功能测试方法

非接触式IC卡的应用日趋广泛,对嵌入式软件功能测试方法有效性与实用性提出了新的挑战。论文探讨了非接触式IC卡硬件驱动层的功能测试方法,包括在FPGA平台上进行在线测试以及样卡的回归测试方法。该文以嵌入式软件测试方法理论为基础,确定在进行硬件驱动层测试时可使用的功能测试方法,并依此设计测试用例;然后,确定样卡的回归测试方法;最后,根据测试环境以及实际项目情况,选择一种合适的测试架构。本文所提供的功能测试方法,可以有效地被利用在非接触式IC卡硬件驱动层的功能测试中。     

最新的生产测试系统——Spectrum系列

美国Teradyne(泰瑞达)公司于1996年11月12日在德国慕尼黑推出了第一台采用VXI结构的生产测试平台,以满足对最新的表面贴装电路板测试的要求。在电子产品展示会上的演示首次证实了新一代的Spectrum 8800系列产品是第一个建立在集成的VXI系统结构上的电路板测试系统。它主要应用于在线测试和电路板功能测试领域。