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1.
溶胶凝胶法制备的PbTiO3薄膜的表面层 总被引:1,自引:1,他引:0
利用X射线光电子能谱研究了溶胶凝胶法制备的PbTiO3薄膜表面态。结果表明薄膜表面会出现一层在烧结过程中形成的富含PbO的非计量的表面层,厚约40nm。薄膜经溅射及空气中600℃热处理后,其表面转化为化学计量比的PbTiO3。 相似文献
2.
用溶胶-凝胶方法在Si上成功地制备了钙钛矿型的PbTiO3薄膜。X射线衍射结果显示,在热处理温度为750 ̄900℃范围内,随温度升高,薄膜由多晶转变为定向结晶。X射线光电子能谱分析发现,薄膜表面存在SiO2薄层,其厚度大约为0.6nm,该薄层是在制膜过程中衬底Si通过PbTiO3薄膜扩散到表面与大气中的O2反应而形成的。在750℃热处理的薄膜,膜层中不含SiO2,但温度升高,膜层中存在SiO2成分 相似文献
3.
以醋酸铅、异丙醇锆和钛酸正丁酯为先驱物,利用溶胶-凝胶在TiNi形状记忆合金箔基片上成功合成了PZT铁电陶瓷薄膜,并研究了PZT薄膜的晶化过程,结果表明,所得PZT薄膜属钙钛矿结构无裂纹,与TiNi合金基结合牢固。 相似文献
4.
溶胶—凝胶法制备纯PbTiO3超细粉的研究 总被引:8,自引:1,他引:7
以金属醇盐和无机盐为原料,用溶胶-凝胶法制备合成了粒径小于50nm的纯PbTiO3超细粉,探讨了溶胶-凝胶过程反应机理,并对制备过程中的一些主要因素如pH值、溶液浓度和温度等进行了讨论,采用热分析、X-Ray衍射分析和TEM等测试手段对PbTiO3超细粉进行了分析。 相似文献
5.
溶胶-凝胶水热法制备纳米晶体PbTiO3 总被引:5,自引:0,他引:5
以醋酸铅和钛酸丁酯为原料,乙二醇单甲醚为溶剂,分别用溶胶-凝胶直接水解法和溶胶-凝胶水热合成法制备纳米晶体PbTiO3,用XRD、TEM、Raman、ICP和氮吸附表面积测量等测试手段对纳米PbTiO3进行了分析。单纯sol-gel直接水解法(无酸催化)合成样品经400℃处理后仍为无定形结构,但同样条件下经溶胶-凝胶水热过程处理过的样品经400℃热处理可得到形状均一,颗粒较小,平均粒径在20-30nm左右,具有单相钙钛矿结构的钛酸铅纳米粉。在sol-gel酸性条件下水解合成的样品300℃形成晶相,但颗粒分布不均匀,经400℃处理的样品平均粒径在50nm左右。 相似文献
6.
采用PECVD技术,以Pb(C2H5)、HiCl4和O2为反应源,在170℃温度下沉积了PbTiO3功能薄膜,分别对薄膜进行了X射线荧光光谱、X光电子能谱、X射线衍射光谱和扫描电镜的化学组成及形貌等分析。 相似文献
7.
溶胶—凝胶法制备含PbTiO3微晶的玻璃陶瓷 总被引:2,自引:0,他引:2
采用溶胶-凝胶工艺低温合成含有Pb,Ti成份和玻璃相组成成份的均匀透明凝胶,并通过热处理在凝胶玻璃中原位生长出纯净的铁电PbTiO3微晶。利用热分析手段和IR谱分析了凝胶在热处理过程中有机基团的分解及内部元素键合方式的演变。 相似文献
8.
电极对PZT铁电薄膜的微观结构和电性能的影响 总被引:7,自引:0,他引:7
采用溶胶—凝胶(sol—gel)工艺分别在Pt/Ti/SiO2/Si和LNO/Si电极上制备Pb(Zr0.53,Ti0.47)O3(PZT)铁电薄膜。研究了不同电极材料对PZT铁电薄膜的微结构及电性能的影响。(100)择优取向的PZT/LNO薄膜的介电性能和铁电性能较(111)/(100)取向的PZT/Pt薄膜略有下降,但在抗疲劳特性和漏电流特性方面都有了很大提高。PZT/LNO薄膜10m次极化反转后剩余极化几乎保持未变,直至10^12次反转后,剩余极化仅下降了17%。 相似文献
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用溶胶 凝胶方法在Si上成功地制备了钙钛矿型的PbTiO3薄膜。X射线衍射结果显示 ,在热处理温度为 750~ 90 0℃范围内 ,随温度升高 ,薄膜由多晶结构转变为定向结晶。X射线光电子能谱分析发现 ,薄膜表面存在SiO2 薄层 ,其厚度大约为 0 6nm ,该薄层是在制膜过程中衬底Si通过PbTiO3薄膜扩散到表面与大气中的O2 反应而形成的。在 750℃热处理的薄膜 ,膜层中不含SiO2 ,但温度升高 ,膜层中存在SiO2 成分 ,这可能是Si在向表面扩散过程中与膜中的O反应生成的。表面SiO2 可通过Ar离子的轻微溅射而消除 ,而膜内SiO2 成分只能通过调节工艺参数来消除 相似文献
10.
本文研究了MOCVD法淀积过程中工艺条件对PbTiO3膜c轴取向度的影响,探讨了PbTiO3膜的生长过程,通过调节氧气流量首次在MgO(100)单晶衬底上淀积出c轴取向的PbTiO3外延膜。PbTiO3外延膜的介电常数为90,折射率为2.64,均和单晶性能一致。 相似文献
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由面积-周长关系测量的分形维数与材料韧性的关系 总被引:5,自引:0,他引:5
本文分析与研究了 Slit Island Method(SIM)测量断口磨面“小岛”周长-面积关系,指出由这种方法所测得的分形维数 Dm 不是金属断裂表面的真正分形维数 D_o,D_m 取决于测量“小岛”时的码尺长度并与 D_o 有定量关系。只有当测量码尺足够小时,D_m 才接近真正的分形维数 D_o。同时指出,许多作者所得到的 D_m 与韧性之间相反变化的原因是由于测量码尺太大造成的,当测量码尺的绝对长度小于临界长度,即“小岛”周长 Koch 曲线始图的边长时,D_m 与韧性之间才会呈现正变化的关系。 相似文献
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