晶体管爆裂噪声的积分双谱检测方法研究

本文根据对积分双谱分布特性分析，论证了晶体管爆裂噪声是服从非高斯且非对称分布的，并提出可利用积分双谱方法来检测晶体管爆裂噪声．     

基于对角积分双谱的海面慢速小目标检测方法

针对海杂波背景下雷达对海面慢速小目标探测技术难题,该文提出一种基于对角积分双谱的三特征融合检测方法。该方法首先从待检测信号的估计双谱中获得对角积分双谱,而后根据海杂波单元与目标单元之间的非线性耦合差异性,进一步从对角积分双谱中提取峰值、质心频率、谱宽3种特征。考虑到扫描模式下雷达采用的相干脉冲数通常较少,易导致特征不稳定,进而影响海杂波与目标可分性,为此,通过多帧扫描历史数据和当前帧数据的综合应用,对谱特征进行积累得到累积峰值、全变差、累积谱宽3种累积特征。最后采用凸包分类算法,在三特征空间进行融合检测。经实测CSIR数据集验证,在同等参数条件下,该文检测方法相比已有基于时频三特征的检测方法,基于幅度、多普勒三特征检测方法和分形特征检测方法具有更好的检测性能。     

基于噪声奇异性的光耦器件爆裂噪声检测新法

为了准确客观地检测出爆裂噪声的存在,提出了基于噪声信号奇异性的光耦器件爆裂噪声检测方法.通过对光耦器件噪声样本的计算发现,含有大量爆裂噪声的样本,其平均H(o)lder指数接近于0,反映到局部奇异性指数分布直方图中,其最可几率所对应的h值也在0值附近.而不合爆裂噪声的样本平均H(o)lder指数则在-0.3附近.实验证实了奇异性检测方法可以明晰地区分良品组与次品组光耦器件.噪声奇异性参数可以作为爆裂噪声是否存在的客观依据.     

基于Z参数的微波晶体管高频噪声网络分析方法

For high-capacity wavelength division multiplexing(WDM) in optical fiber transmission systems, multi-wavelength light sources are needed to be operated at precisely-determined wavelength swith a fine separation of 0.8 or 1.6nm.Increasing efforts have been put into deve...     

基于Z参数的微波晶体管高频噪声网络分析方法

利用Z参数噪声网络等效电路的分析方法,得到了用器件Z参数表示的微波双极晶体管噪声参数的表达式,通过对微波低噪声双极晶体管的高频参数进行测试和分析,并把器件的网络参数和物理参数相结合,来对器件的最小噪声系数进行计算和分析.     

晶体管放大器偏置电路的噪声计算

本文首次给出了晶体管放大器三种电路组态各管脚偏置噪声的计算方法。该方法能够定量模拟晶体管放大器不同工作状态下的偏置噪声，从而为晶体管放大器偏置电路的噪声分析和低噪声优化设计提供了有利的工具。     

赝高电子迁移率晶体管结构的光反射谱研究

本文利用变温光反射谱和室温光伏谱研究了赝高电子迁移率晶体管结构中二维电子气的行为，发现二维电子气的屏蔽作用对低指数子带较为显著，而对较高子带则弱得多，同时带填充效应在不同温度下对临界点跃迁能量及跃迁强度也有不同影响．     

晶体管放大器三种组态的En—In噪声分析与比较

准确评价晶体管三种组态的噪声性能是低噪声放大器电路组态优化设计的关键。本文在晶体管三种组态Ｅｎ－Ｉｎ噪声分析等方面给出了若干新结果。     

硅双极晶体管1／f噪声的物理机制

在低频下,1/f噪声是硅双极晶体管的主要噪声。到目前为止,一般认为,1/f噪声有二种来源:表面态的存在和体内自由载流子迁移率的涨落。这两种1/f噪声有不同的表现形式。目前还没有统一的模型来描述1/f噪声,这是由于对1/f噪声的物理机理还没有一个完整、统一的理论。本文对已见发表的1/f噪声主要研究结果作了评述。     

结型场效应晶体管低频噪声测试方法研究

在深入研究JFET低频噪声特性及产生机理的基础上,提出了一种通过测试宽频带功率谱密度得到其规定频率处等效输入噪声电压功率谱密度和噪声系数的测试方法,并给出了低频噪声测试的偏置电路、测试设备和测试方法。结合3DJ4和3DJ6型JFET器件的测试结果表明,采用本文提出的方法可适用于JFET的低频噪声的测试。     

硅双极晶体管1／f噪声的物理机制

在低频下,1/f噪声是硅双极晶体管的主要噪声.到目前为止,一般认为1/f噪声有二种来源:表面态的存在和体内自由载流子迁移率的涨落,这二种1/f噪声有不同的表现形式.目前还没有统一的模型来描述1/f噪声,这是由于1/f噪声的物理基础还没有一个完整的认识.本文对1/f噪声研究的主要结果作了评述.     

噪声估计和谱熵结合的语音激活检测算法

本文提出一种语音激活检测的改进算法。首先在传统噪声估计的基础上,用Bark子带代替了DFr频域变换,目的在于降低计算复杂度;其次将估计的噪声谱进行白化滤波,并运用于子带谱熵算法中的谱熵计算中。把谱熵值作为VAD算法提取的特征参数,通过门限设定与比较,得出最初的VAD判决结果。增加拖尾延迟保护机制得出最终的VAD判决结果。     

晶体管PN结缺陷形成的G-R噪声研究

本文对大量晶体管g-r噪声测量结果表明,常温下g-r噪声具有很宽的时间常数分布及可能有很大的幅度.现有的文献已无法解释这些实验结果,为此本文提出了pn结区缺陷引起的g-r噪声机理,给出了g-r噪声幅度及时间常数计算公式,可以对晶体管pn结缺陷形成的g-r噪声的形式及特点作出满意的解释.     

基于虹膜图像特征的噪声检测方法

在虹膜识别系统中,采集得到的图像,除了虹膜信息外,一般还会存在睫毛、眼睑及光源的像点等干扰.这会对虹膜的边界定位和特征提取产生影响,并最终导致识别率降低.通过对眼睑、睫毛、光斑噪声检测的研究,根据噪声的特点,提出一种新的快速定位眼睑的方法,并对双阈值检测睫毛的方法进行改进.试验结果表明,该方法能有效去除虹膜区域噪声干扰,提高识别率.     

低温,低频双极晶体管的噪声分析

建立了低温双极晶体管的低频噪声模型，对低温、低频双极晶体管的噪声进行了分析，并给出噪声电压随工作温度、工作电流以及频率的三维变化曲线，指出了双极晶体管获得最小噪声的最佳工作温度和最佳工作电流。     

双极晶体管1／f噪声参数fL和ν的测量提取

双极晶体和害低频段的噪声主要成分是１／ｆ噪声，其参数ｆＬ和ｖ的获得取目前尚很困难。本文给出了这两个参数的测量提取方法。基基本思想是基于噪声电压谱测量和最小二乘曲线拟合获得。最后给出测量提取的实例与结果。     

谱域OCT光谱分析及图像噪声消除方法

在谱域OCT系统中,成像过程存在原理性噪声以及系统暗噪声,影响了图像质量,造成图像信噪比降低,图像局部结构信息缺失,因此,对谱域OCT系统的干涉光谱成分和光谱噪声的形成机制进行分析,提出了针对干涉光谱解耦的噪声处理方法.对单层薄膜成像实验,得到了薄膜的二维层析图像,实验结果表明,噪声消除方法对薄膜的成像处理简单有效,能...     

结型场效应晶体管放大器的噪声

本文通过分析结型场效应管(JFET)放大器内部不同的噪声源，首次导出了场效应管放大器在较宽频率范围内的等效输入噪声电压表达式，估算了当信号源阻抗为容性时JFET放大器的总噪声，为场效应管电路低噪声优化设计提供有力的工具。