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大量试验和数值仿真结果均已确认封装-器件的热失配对MEMS器件性能及可靠性有显著影响,即热致封装效应.然而迄今为止仍缺乏有效的物理模型对此加以系统描述.本文基于单元库法思想和节点法分析手段构建了MEMS热致封装效应的理论模型.通过对非器件结构如锚区、衬底等标准化单元建模,扩充了节点分析法在封装级MEMS仿真领域的应用.文中以常见MEMS基本器件和封装结构为例进行了研究,计算了热致封装效应对器件谐振特性的影响,并利用有限元仿真进行验证.最后讨论了封装级MEMS设计面临的挑战. 相似文献
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针对深反应离子刻蚀(DRIE)工艺加工高深宽比梳齿电容存在侧壁倾斜角的情况,分析了该倾斜角对梳齿谐振器频率的影响。为了使设计的梳齿谐振器频率符合应用要求,推导出了梳齿谐振器在正负侧壁倾斜角θ下的谐振频率计算公式。利用ANSYS Workbench11.0平台,分别对侧壁倾斜角为0°,0.2°,0.35°和0.5°的情形进行了有限元建模与模态仿真。仿真结果表明:随着正倾斜角的增大,谐振频率减小;负倾斜角增大时,谐振频率增大,且一阶模态振形的平稳程度越差。比较数值仿真结果与考虑了正负倾斜角误差的梳齿谐振器谐振频率计算公式计算结果对比,吻合较好。 相似文献
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封装形式的选择对当今基于MEMS的产品是非常关键的,这是因为它们几乎占了总体物料和装配成本的20%~40% 相似文献
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理论分析了吸附效应对双端固支纳米谐振梁特性的影响。吸附效应主要考虑质量变化带来的影响。推导了吸附效应影响下的频率偏移,并与空气阻尼对谐振频率的影响进行了比较。结果显示吸附效应引起的频率偏移在1‰左右。与空气阻尼效应相比,吸附效应对频率的影响更大。文章还分析了频率偏移与压强,温度和梁尺寸的关系。 相似文献
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采用三维有限元法分析了TEM传输室的高次模截止频率和谐振频率.在有限元分析软件ANSYS下进行了建模求解,提供了一种快速、准确求解TEM传输室谐振频率的有效方法.通过实验分析,证实了对场分布影响较大的第一阶谐振频率是TE101模,TE101模的谐振频率是TEM传输室的上限使用频率. 相似文献
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电磁波经缝隙进入机箱腔体后,会在某些频率点形成驻波而发生电磁谐振,导致腔体屏蔽效能急剧下降.为快速准确预测谐振频率以指导屏蔽腔体设计,本文基于缝隙天线阻抗理论提出一种带缝腔体谐振频率的计算方法.将电磁场用自由空间和腔体格林函数表示,根据缝隙处的边界条件建立等效磁流源的积分方程.通过矩量法求解积分方程,计算出腔体输入阻抗.根据谐振发生时电抗为零或电阻最小,可从频率-阻抗曲线获得谐振频率.本文方法不仅能预测缝隙谐振和低阶模式腔体谐振,还能预测出高阶谐振.与实验和CST仿真结果对比验证了本文方法的准确性及快速性.最后用本文方法分析了腔体和缝隙尺寸以及缝隙位置对谐振频率的影响. 相似文献
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