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一种提高红外焦平面阵列盲元检测精度的方法
引用本文:张科,赵桂芳,崔瑞青,袁祁刚. 一种提高红外焦平面阵列盲元检测精度的方法[J]. 红外与激光工程, 2007, 36(4): 453-456
作者姓名:张科  赵桂芳  崔瑞青  袁祁刚
作者单位:西北工业大学航天学院,陕西,西安,710072;西北工业大学航天学院,陕西,西安,710072;中国兵器工业第208研究所,北京,102202
基金项目:国家自然科学基金 , 航天科技创新项目 , 武器装备预研基金
摘    要:针对红外成像系统在条纹噪声和非均匀性噪声干扰下盲元检测精度差的问题,提出了一种将小波滤波和“3σ”原则相结合的盲元检测新方法。首先用小波变换对含有条纹噪声和非均匀性噪声的图像进行预处理,再用“3σ”原则对其进行盲元检测。仿真结果表明该方法消除了噪声对盲元检测的影响,有效地解决了“3σ”原则检测精度低的问题。

关 键 词:红外焦平面阵列  盲元  小波滤波  条纹噪声  "  3σ"  原则  非均匀性
文章编号:1007-2276(2007)04-0453-04
收稿时间:2006-08-09
修稿时间:2006-08-09

Method of improving bad pixel detection precision of IRFPA
ZHANG Ke,ZHAO Gui-fang,CUI Rui-qing,YUAN Qi-gang. Method of improving bad pixel detection precision of IRFPA[J]. Infrared and Laser Engineering, 2007, 36(4): 453-456
Authors:ZHANG Ke  ZHAO Gui-fang  CUI Rui-qing  YUAN Qi-gang
Affiliation:1.College of Astronautics, Northwestern Polytechnical University, Xi′an 710072,China2.No.208 Research Institute of China Ordnance Industries, Beijing 102202,China
Abstract:Aiming for solving the problem of the bad pixels detection precision of infrared system, a new detection method is proposed , which combine “3σ” principle with wavelet filtering. This method pretreats the noise image with wavelet transform firstly, then detects bad pixels with “3σ” principle. Simulation results show that the influence of noise for bad pixel detection has been eliminated and the low detection precision of “3σ” principle has been improved effectively.
Keywords:Infrared focal plane array  Bad pixels  Wavelet filtering  Stripe noise  “3σ” principe  Non-uniformity
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