| X射线衍射全谱拟合法快速分析长石矿物含量 |
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| 引用本文： | 冉敬,杜谷,王凤玉.X射线衍射全谱拟合法快速分析长石矿物含量[J].岩矿测试,2017,36(5):489-494. |
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| 作者姓名： | 冉敬 杜谷 王凤玉 |
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| 作者单位： | 中国地质调查局成都地质调查中心, 四川 成都 610081,中国地质调查局成都地质调查中心, 四川 成都 610081,中国地质调查局成都地质调查中心, 四川 成都 610081 |
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| 基金项目： | 国土资源部公益性行业科研专项经费项目（201111028-3，201311081-2）。 |
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| 摘 要： | 长石中矿物的含量需要根据化学分析结果计算获得,分析流程长、计算复杂,而光学显微镜测定长石含量易受切片位置的影响。本文利用High Score软件对长石样品进行X射线衍射全谱拟合分析,能有效降低衍射峰重叠影响,修正择优取向造成的衍射强度误差,方法的准确度优于参比法(RIR法);样品定量分析结果与绝热法结果接近,相对偏差小于1.69%;与化学分析结果换算的矿物含量比较,绝对误差小于5%,满足了DZ/T 0130—2006所规定的绝对误差允许限。采用钾长石国家一级标准物质进行验证,主要矿物成分的分析误差小于1.34%,与钾长石化学成分标准值相比,绝对误差均小于1%。对长石物相进行定量分析的结果表明:X射线衍射全谱拟合法操作简单,分析质量能够满足相关标准对衍射分析的要求,用于地质实验中岩石矿物物相含量分析是可行的。
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| 关 键 词： | X射线衍射 全谱拟合 半定量分析 长石 物相组成 |
| 收稿时间： | 2016/11/21 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2017/8/14 0:00:00 |
Rapid Analysis of Feldspar by X-ray Diffractometry Rietveld Refinement Method |
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| RAN Jing,DU Gu and WANG feng-yu.Rapid Analysis of Feldspar by X-ray Diffractometry Rietveld Refinement Method[J].Rock and Mineral Analysis,2017,36(5):489-494. |
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| Authors: | RAN Jing DU Gu and WANG feng-yu |
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| Affiliation: | Chengdu Geological Survey Center, China Geological Survey, Chengdu 610081, China,Chengdu Geological Survey Center, China Geological Survey, Chengdu 610081, China and Chengdu Geological Survey Center, China Geological Survey, Chengdu 610081, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | X-ray Diffractometry Rietveld refinement method quantitative analysis feldspar phase composition |
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