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| 锇粉中杂质元素分析方法研究 | |
| 引用本文： | 孙亚莉,邹晓秋.锇粉中杂质元素分析方法研究[J].岩矿测试,1997,16(4):262-266. |
| 作者姓名： | 孙亚莉 邹晓秋 |
| 作者单位： | 地矿部岩矿测试技术研究所 |
| 摘 要： | 利用ＩＣＰ＿ＭＳ技术建立了锇粉中痕量杂质元素的分析方法。在浓ＨＮＯ３介质中，锇以ＯｓＯ４形式挥发除去，分离锇基体后，可直接测定的痕量元素达５０余种。取样量０．１ｇ，测定限为０．２～２４６ｎｇ／ｇ，可实现质量分数ｗ（Ｏｓ）为９９．９９９９％锇粉中杂质元素测定。结合ＩＣＰ＿ＡＥＳ测定Ｋ、Ｎａ、Ｃａ、Ｍｇ、Ａｌ、Ｆｅ、Ｓｉ和Ｐ，可实现锇粉原料及产品的纯度分析。 |
| 关 键 词： | 等离子体质谱 等离子体光谱 锇粉 痕量元素 |
Determination of Trace Elements in High Purity Osmium Powder |
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| Sun Yali,Zou Xiaoqiu,Qu Wenjun,Du Andao,He Hongliao.Determination of Trace Elements in High Purity Osmium Powder[J].Rock and Mineral Analysis,1997,16(4):262-266. | |
| Authors: | Sun Yali Zou Xiaoqiu Qu Wenjun Du Andao He Hongliao |
| Abstract: | |
| Keywords: | inductively coupled plasma_mass spectrometry(ICP_MS) inductivly coupled plasma_atomic emission spectrometry(ICP_AES) osmium powder trace element |
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