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太赫兹无损检测的进展
引用本文:张雯,雷银照.太赫兹无损检测的进展[J].仪器仪表学报,2008,29(7).
作者姓名:张雯  雷银照
作者单位:北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院,北京,100191
摘    要:随着太赫兹辐射源、探测器以及系统技术的进步,基于太赫兹光谱与成像技术的无损检测成为可能.由于太赫兹辐射在大多数介电物质中都是透明的,太赫兹无损检测技术对于检验非导电材料中的隐藏缺陷具有巨大的潜力.这项新技术可以作为现有检验技术的有力补充,并有可能在某些场合发挥不可替代的作用.本文阐述了太赫兹辐射在无损检测领域的应用,概述了太赫兹无损检测的基本原理、特点,介绍了太赫兹无损检测应用研究和理论研究的最新进展.

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Progress in terahertz nondestructive testing
Zhang Wen,Lei Yinzhao.Progress in terahertz nondestructive testing[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,2008,29(7).
Authors:Zhang Wen  Lei Yinzhao
Abstract:
Keywords:
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