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Ni诱导SiGe薄膜晶化烧结制备与热电势氢传感器件
引用本文:全宇军,邱法斌,申宇爽,村山宣光.Ni诱导SiGe薄膜晶化烧结制备与热电势氢传感器件[J].仪表技术与传感器,2004(11):7-8,11.
作者姓名:全宇军  邱法斌  申宇爽  村山宣光
作者单位:1. 吉林大学电子科学与工程学院,吉林,长春,130023
2. 日本产业技术综合研究所,日本,463-8560
基金项目:国家自然科学基金(60004003)
摘    要:在玻璃衬底上采用RF溅射法制备非晶SiGe薄膜的基础上,采用金属Ni诱导法对所制备的薄膜进行晶化烧结,并以Pt催化氢氧化放热反应和SiGe薄膜的热电势效应为原理制备出了小型热电势氢传感器。测试表明:以500℃烧结所得SiGe薄膜材料为敏感基体,在100℃工作温度下所制备的传感器对3%H2灵敏度为0.7mV,检测的浓度范围大约为0.02%-5%,且输出电压随着烧结温度的升高而升高。

关 键 词:氢传感器  Ni诱导  Pt催化  热电效应
文章编号:1002-1841(2004)11-0007-02

Preparation of Ni-induced Crystallized SiGe Film and Study on Thermoelectric Hydrogen Sensor
QUAN Yu-jun,QIU Fa-bin,SHIN Woosuck,NORIMITSU Murayama.Preparation of Ni-induced Crystallized SiGe Film and Study on Thermoelectric Hydrogen Sensor[J].Instrument Technique and Sensor,2004(11):7-8,11.
Authors:QUAN Yu-jun  QIU Fa-bin  SHIN Woosuck  NORIMITSU Murayama
Affiliation:QUAN Yu-jun~1,QIU Fa-bin~1,SHIN Woosuck~2,NORIMITSU Murayama~2
Abstract:
Keywords:Hydrogen Sensor  Ni-induced  Pt-catalyzed  Thermoelectric Effect
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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