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线结构光条纹中心的全分辨率精确提取
引用本文:熊会元,宗志坚,陈承鹤.线结构光条纹中心的全分辨率精确提取[J].光学精密工程,2009,17(5).
作者姓名:熊会元  宗志坚  陈承鹤
作者单位:中山大学,工学院,现代设计技术中心,广东,广州,510275
基金项目:广东省科技计划项目,国家企业技术创新基金
摘    要:激光条纹中心的提取是线结构光坐标测量系统的关键技术之一,本文对条纹中心的高分辨率精确提取进行了研究.首先,基于阈值法全分辨率提取条纹初值中心;然后,在条纹初值中心域应用灰度梯度与Bazen方法计算条纹法向,最后在法线方向精确获取光条纹能量中心.采用分辨率为768×576的相机,应用V形检测块进行对比实验,结果表明:提取的中心点分辨率为1 086点,比传统方法增加了42.5%,且无冗余点;中心点到由中心点拟合的直线的平均距离最小,分别为0.294与0.306 7 pixel;条纹法向计算精确,计算时间为75.8 ms.该方法避免了被测体表面曲率变化大、提取中心密度小等问题,提取的精度与鲁棒性高,满足在线精确测量要求.

关 键 词:线结构光  灰度梯度  三维测量

Accurately extracting full resolution centers of structured light stripe
XIONG Hui-yuan,ZONG Zhi-jian,CHEN Cheng-he.Accurately extracting full resolution centers of structured light stripe[J].Optics and Precision Engineering,2009,17(5).
Authors:XIONG Hui-yuan  ZONG Zhi-jian  CHEN Cheng-he
Abstract:
Keywords:
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