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| 基于谢宁DOE的背光灯片内部短路侦测研究 | |
| 引用本文： | 舒逸,杜世昌,奚立峰.基于谢宁DOE的背光灯片内部短路侦测研究[J].机械制造与自动化,2009,38(5):129-132,152. |
| 作者姓名： | 舒逸 杜世昌 奚立峰 |
| 作者单位： | 1. 罗杰斯科技苏州有限公司,江苏,苏州,215000;上海交通大学机械与动力工程学院,上海,200030 2. 上海交通大学机械与动力工程学院,上海,200030 |
| 摘 要： | 谢宁试验设计方法是目前广泛使用的，具有代表性的试验设计方法之一。采用谢宁试验设计的成对（组）比较技术，结合图基检验的方法，针对背光灯片“内部短路”缺陷难以侦测的问题，构建了具体的具有实际操作性的检验侦测手段，并通过实例验证了该方法的有效性。 |
| 关 键 词： | 谢宁试验设计 成对（组）比较技术 图基检验 背光灯片 内部短路 |
Research on Electroluminescent Lamp Inner Short Circuit Detection Based on Shainin DOE |
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