| 纳米绝缘材料的STM检测机理及其应用研究 |
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| 引用本文： | 王银峰,杨学恒,刘安平,周维.纳米绝缘材料的STM检测机理及其应用研究[J].中国机械工程,2005,16(Z1):389-390. |
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| 作者姓名： | 王银峰 杨学恒 刘安平 周维 |
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| 作者单位： | 重庆大学,重庆,400044 |
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| 摘 要： | 分析了纳米绝缘材料薄层在适当的偏压电场下STM检测的机理,用自行研制的STM.IPC-205B型扫描隧道显微镜实现了对部分绝缘纳米材料微观形貌的检测,得到了理想的图像.拓展了STM检测加工技术的应用领域,进一步发挥了STM在材料结构和性能研究方面精度高、稳定性强等优势.
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| 关 键 词： | 纳米 扫描隧道显微镜 原子力显微镜 微观形貌 |
| 文章编号： | 1004-132X(2005)S1-0389-02 |
| 修稿时间： | 2005年5月5日 |
Theoretical Analysis and Applications of Insulated Nanophase Materials by STM |
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| Wang Yinfeng,Yang Xueheng,Liu Anping,Zhou Wei.Theoretical Analysis and Applications of Insulated Nanophase Materials by STM[J].China Mechanical Engineering,2005,16(Z1):389-390. |
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| Authors: | Wang Yinfeng Yang Xueheng Liu Anping Zhou Wei |
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