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低熔点玻璃粉对导电银浆烧结性能及微结构的影响
引用本文:万剑,陈鹏,祁实,王海波.低熔点玻璃粉对导电银浆烧结性能及微结构的影响[J].轻工标准与质量,2020(3):103-106.
作者姓名:万剑  陈鹏  祁实  王海波
作者单位:轻工业部南京电光源材料科学研究所,南京210015
摘    要:采用熔融冷却法制备了无铅低熔玻璃粉,利用XRD对所得玻璃粉进行表征。通过四探针仪、扫描电镜等手段研究了玻璃粉含量、软化点对银浆性能的影响。结果表明,玻璃相粘度特性和液相量对粘性流动传质及烧结致密化过程有很大的影响。随着玻璃粉软化点的升高,银浆的方阻逐渐增大,附着力则先增大后减小,玻璃的软化点为420℃时,银浆的导电性能最好,方阻最小为2.4 mΩ/;当玻璃软化点为450℃时,银膜层的附着力最优为13 N。随着玻璃含量的增加,方阻先增大后减小,当玻璃含量为5%时方阻最小为2.3 mΩ/,导电性能最好;随着玻璃含量的增加,银层附着力持续增大,通过调节玻璃含量完全可以满足银膜的使用要求。

关 键 词:玻璃粉  银浆  微结构  性能
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