首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

引用相对线密度CVb表征纱线长片段不匀的可行性
引用本文:田金家,韩岩君,刘小鹏.引用相对线密度CVb表征纱线长片段不匀的可行性[J].上海纺织科技,2008,36(2):46-48.
作者姓名:田金家  韩岩君  刘小鹏
作者单位:1. 滨州市纺织纤维检验所,山东,滨州,256606
2. 滨州市产品质量监督检验所,山东,滨州,256606
摘    要:条干均匀度测试仪检测的纱线电容量与纱线体积或外观形态紧密相关,条干均匀度测试仪所反映的长片段电容量的不匀可对应线密度CVb,由此检验与控制纱线长片段质量不匀,并能充分利用电子仪器检验的稳定性与准确性,提高检验质量与检验效率.

关 键 词:测试  纱线  线密度  不匀率  线密度  表征  纱线  长片段  不匀  linear  density  relative  section  yarn  display  检验效率  检验质量  稳定性  仪器检验  电子  利用  控制  对应  相关  外观形态
文章编号:1001-2044(2008)02-0046-03
收稿时间:2007-07-01
修稿时间:2007年7月1日

Feasibility to display unevenness of the yarn long section by use of relative linear density
TIAN Jin-jia,HAN Yan-jun,LIU Xiao-peng.Feasibility to display unevenness of the yarn long section by use of relative linear density[J].Shanghai Textile Science & Technology,2008,36(2):46-48.
Authors:TIAN Jin-jia  HAN Yan-jun  LIU Xiao-peng
Abstract:The yam capacity detected by yam sliver evenness tester is closely related to the demention and outlook of the yam whilst the unevenness of capacity on the long section of the yam displayed by yam sliver evenness tester is related to the linear density CVb . Based on this, to check and control the unevenness of the long section of the yarn can fully use its stability and rightness of the inspection of the electronic tester, thus raising the quality and efficiency of the inspection.
Keywords:testing  yam  linear density  irregularity
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号