首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

基于果品介电特性的无损检测技术研究综述
引用本文:周世平,张海红,李海峰,马奇虎.基于果品介电特性的无损检测技术研究综述[J].食品研究与开发,2015(1):131-134,144.
作者姓名:周世平  张海红  李海峰  马奇虎
作者单位:宁夏大学农学院,宁夏银川,750021
基金项目:国家科技支撑项目(2012BAF07B00);国家自然科学基金
摘    要:无损检测技术已成为果品品质检测的趋势。本文对基于介电特性的果品无损检测最新研究进行了综述,比较了常用测试技术及条件,分析了影响果品介电特性参数的频率、温度、贮藏时间等外界因素,比较了果品的成熟度、硬度、成分等内在因素对果品电参数的影响,并且指出了该领域的研究动向,为今后该技术的进一步的研究应用提供了借鉴。

关 键 词:果品  介电特性  无损检测

Review of Fruit Nondestructive Testing Technology Research Based on the Dielectric Characteristics
ZHOU Shi-ping,ZHANG Hai-hong,LI Hai-feng,MA Qi-hu.Review of Fruit Nondestructive Testing Technology Research Based on the Dielectric Characteristics[J].Food Research and Developent,2015(1):131-134,144.
Authors:ZHOU Shi-ping  ZHANG Hai-hong  LI Hai-feng  MA Qi-hu
Affiliation:ZHOU Shi-ping;ZHANG Hai-hong;LI Hai-feng;MA Qi-hu;Agricultural College,Ningxia University;
Abstract:
Keywords:fruit  dielectric characteristics  nondestructive testing
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号