| 沾污校正系数确定方法研究 |
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| 引用本文： | 戴家才,郭海敏.沾污校正系数确定方法研究[J].石油天然气学报,2005,27(4):462-463. |
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| 作者姓名： | 戴家才 郭海敏 |
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| 作者单位： | 长江大学"油气资源与勘探技术"教育部重点实验室,湖北,荆州,434023 |
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| 摘 要： | 放射性同位素示踪测井是确定注水剖面的有效方法．但沾污校正系数的准确性将影响同位素吸水剖面测井资料的解释精度。分析了放射性沾污对吸水面积与吸水量的关系的影响．讨论了沾污校正系数的基本含义及其影响因素，并重点讨论了沾污校正的实质及其具体实现过程．提出了在有代表性的注水井加测电磁流量确定沾污校正系数的新方法。
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| 关 键 词： | 同位素 吸水剖面 生产测井 污染 校正系数 |
| 文章编号： | 1000-9752（2005）04-0462-02 |
| 收稿时间： | 2005-07-13 |
| 修稿时间： | 2005年7月13日 |
Method for Determining Adhesion Correcting Coefficient |
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| DAI Jia-cai,GUO Hai-min.Method for Determining Adhesion Correcting Coefficient[J].Journal of Oil and Gas Technology,2005,27(4):462-463. |
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| Authors: | DAI Jia-cai GUO Hai-min |
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