首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

射线底片上伪缺陷的识别与消除
引用本文:张路根,刘弘,等.射线底片上伪缺陷的识别与消除[J].国外金属热处理,2001,22(2):36-37.
作者姓名:张路根  刘弘
作者单位:[1]江西省名优检所,南昌330029 [2]吉安市名优检所,吉安343
摘    要:本文介绍了射线底片上伪缺陷形成原因、识别及及消除方法。

关 键 词:伪缺陷  识别  消除  射线底片  X射线
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号