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非鲁棒路径时滞故障测试生成算法
引用本文:赵莹,赵谢秋,李艳娟.非鲁棒路径时滞故障测试生成算法[J].机床与液压,2015,43(6):54-58.
作者姓名:赵莹  赵谢秋  李艳娟
作者单位:1. 北华大学 电气信息工程学院,吉林,132021
2. 东北林业大学 信息与计算机工程学院,哈尔滨,150040
基金项目:the National Natural Science Foundation of China,Jilin City Technology Bureau Foundation (Intelligent control system of Warehousing Logistics,201414006).
摘    要:针对数字电路中非鲁棒路径时滞故障测试时间长、故障覆盖率较低的问题,提出了人工蜂群优化的测试生成算法。该算法首先应用电路转换法则把数字电路转换成为其等效电路,然后用Hopfield神经网络构建等效电路单固定故障的约束电路,并得到能量函数;再应用人工蜂群优化算法计算能量函数的最小值以得到等效电路单固定故障的测试矢量,最后根据对应关系得到原电路非鲁棒路径时滞故障的测试矢量对。在ISCAS’85国际标准电路上的实验结果表明:该算法故障覆盖率能够达到98%,并且平均测试生成时间小于0.8 s。

关 键 词:测试生成  非鲁棒路径时滞故障  Hopfield神经网络  人工蜂群算法

A new test generation algorithm for non-robust path delay faults
Ying ZHAO,Xie-qiu ZHAO,Yan-juan LI.A new test generation algorithm for non-robust path delay faults[J].Machine Tool & Hydraulics,2015,43(6):54-58.
Authors:Ying ZHAO  Xie-qiu ZHAO  Yan-juan LI
Abstract:
Keywords:Test generation  Non-robust path delay fault  Hopfield neural network  Artificial bee colony
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