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锰掺杂氧化铜稀磁半导体薄膜的微结构和磁性
引用本文:赵凡,张亚萍,潘礼庆,HAO Zhu,邱红梅,赵雪丹,John Q. Xiao.锰掺杂氧化铜稀磁半导体薄膜的微结构和磁性[J].材料导报,2007,21(12):115-117.
作者姓名:赵凡  张亚萍  潘礼庆  HAO Zhu  邱红梅  赵雪丹  John Q. Xiao
作者单位:1. 北京科技大学物理系,北京,100083
2. Department of Physics and Astronomy,University of Delaware,Newark,DE 19716,USA
基金项目:国家自然科学基金(50472092;50672008);教育部博士点专项科研基金(20050008028)
摘    要:采用射频磁控溅射制备Mn掺杂CuO薄膜样品。X射线衍射结果说明薄膜样品为单相结构且沿(111)取向生长。通过样品的XRD精修得到样品的结构和晶格参数,掺杂后薄膜晶体结构有微小畸变。薄膜的高分辨透射电镜研究证明了对结构和晶粒大小等的精修结果,且同时说明Mn以替代Cu的形式掺入了CuO晶格中。通过对样品M1T曲线的分析,得到样品的居里温度为96.5K,近邻Mn离子之间的耦合为铁磁性,并由居里外斯拟合得到Mn离子的有效磁矩为3.1μa。这说明磁性不是来自于团聚的Mn原子或铜锰的其它氧化物,而很可能来自于替位的锰离子所形成的Mn-O-Cu-O-Mn之间的铁磁性耦合。

关 键 词:氧化铜  稀磁半导体  铁磁性机理  掺杂

Microstructure and Ferromagnetism of Mn Doped CuO Diluted Magnetic Semiconductor Thin Films
ZHAO Fan,ZHANG Yaping,PAN Liqing,HAO Zhu,QIU Hongmei,ZHAO Xuedan,John Q. Xiao.Microstructure and Ferromagnetism of Mn Doped CuO Diluted Magnetic Semiconductor Thin Films[J].Materials Review,2007,21(12):115-117.
Authors:ZHAO Fan  ZHANG Yaping  PAN Liqing  HAO Zhu  QIU Hongmei  ZHAO Xuedan  John Q Xiao
Abstract:
Keywords:cupric oxide  diluted magnetic semiconductors  ferromagnetic mechanism  doping
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