200~400nm波段光电探测器光谱响应度测量装置研究 |
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引用本文: | 熊利民,林延东,霍超,樊其明,王杰,姚和军.200~400nm波段光电探测器光谱响应度测量装置研究[J].计量技术,2008(2):13-17. |
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作者姓名: | 熊利民 林延东 霍超 樊其明 王杰 姚和军 |
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作者单位: | 中国计量科学研究院,北京,100013 |
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摘 要: | 本文叙述了200~400nm波段光电探测器光谱响应度的测量装置原理、测量系统及不确定度。采用紫外光谱强度大的氙灯作为光源,采用紫外分光效率高的单色仪进行分光,腔型热释电探测器与标准硅光电探测器进行相对光谱响应比较得到标准硅光电探测器相对光谱响应度。绝对值标定则是利用低温辐射计对无窗紫敏硅光电探测器进行测量后再传递到标准硅光电探测器,从而最终测量出标准硅光电探测器在紫外波段的绝对光谱响应度。
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关 键 词: | 紫外 光谱响应度 光电探测器 |
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