首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

噪声扰动下RLC串联谐振电路随机共振的数值研究
引用本文:涂水林,邬正义,吴正阳.噪声扰动下RLC串联谐振电路随机共振的数值研究[J].振动与冲击,2012,31(23):109-114.
作者姓名:涂水林  邬正义  吴正阳
作者单位:常熟理工学院 物理与电子工程学院,江苏 常熟 215500
基金项目:江苏省高校自然科学研究计划项目(10KJD510002)
摘    要:采用四阶Runge-Kutta算法,以信噪比增益和谱功率放大率为随机共振测度指标,研究了电容参数和激励信号均受高斯白噪声扰动时RLC串联谐振电路的随机共振现象。研究表明,欠阻尼RLC串联谐振电路在适当的电路参数、激励信号频率和噪声参数条件下,信噪比增益和谱功率放大率是噪声强度和输入信号频率的非单调函数,且其值均大于1,电路中存在随机共振现象;而在临界阻尼或过阻尼情况下尽管信噪比增益在一定条件下也是噪声强度和输入信号频率的非单调函数,但谱功率放大率取值小于1,电路发生了随机共振现象,改善了信噪比,信号能量却并未得到加强。这一结论使得将欠阻尼RLC串联谐振电路应用于微弱信号检测成为可能。

关 键 词:噪声  串联谐振电路  随机共振  数值研究
收稿时间:2011-9-16
修稿时间:2011-11-23

Numerical simulation for stochastic resonance of a RLC series resonant circuit under noise disturbance
TU Shui-lin,WU Zhen-yi,WU Zheng-yang.Numerical simulation for stochastic resonance of a RLC series resonant circuit under noise disturbance[J].Journal of Vibration and Shock,2012,31(23):109-114.
Authors:TU Shui-lin  WU Zhen-yi  WU Zheng-yang
Affiliation:(Physics and Electronic Engineering College,Changshu Institute of Technology,Changshu 215500,China)
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
点击此处可从《振动与冲击》浏览原始摘要信息
点击此处可从《振动与冲击》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号