“检阅”磁带技术(下) |
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引用本文: | 海阳.“检阅”磁带技术(下)[J].中国计算机用户,2004(45):i006-i009. |
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作者姓名: | 海阳 |
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摘 要: | 在上期的专题中,我们为大家介绍了螺旋扫描技术、线性扫描技术,并且还详细介绍了 DAT 与LTO技术的现状及发展。 如果大家对其中的内容感兴趣,可以登陆《中国计算机用户》网站的论坛 , 或 者 发 邮 件 到 :keven@ccu.com.cn。
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关 键 词: | 磁带技术 VXA技术 AIT技术 DLT技术 |
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