| 通路时延测试综述 |
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| 引用本文： | 李华伟,闵应骅,李忠诚.通路时延测试综述[J].计算机工程与科学,2002,24(2):80-83. |
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| 作者姓名： | 李华伟 闵应骅 李忠诚 |
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| 作者单位： | 中国科学院计算技术研究所信息网络实验室,北京,100080 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金重点资助项目 (6973 3 0 10 )，计算所领域前沿青年基金 (2 0 0 162 10 18) |
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| 摘 要： | 本文对目前通路时延测试领域的主要研究成果进行了综述，阐述了主要的通路时延可测试性及相应的单通路时延故障的分类，并介绍了三种精简通路集的通路时延测试方法。
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| 关 键 词： | 通路时延测试 通路时延故障 可测试性 时间特性 |
| 文章编号： | 1007-130X(2002)02-0080-04 |
| 修稿时间： | 2001年6月20日 |
A Survey on Path Delay Testing |
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| LI Hua wei,MIN Ying hua,LI Zhong cheng.A Survey on Path Delay Testing[J].Computer Engineering & Science,2002,24(2):80-83. |
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| Authors: | LI Hua wei MIN Ying hua LI Zhong cheng |
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| Abstract: | This paper gives a survey of the recent development of path delay testing,introduces the classification of single path delay faults according to testability,and analyses three approaches to reducing the number of paths to be tested during path delay testing |
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| Keywords: | delay testing path delay fault testability |
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