| 基于AODE和再抽样的软件缺陷预测模型 |
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| 引用本文： | 周丰,马力.基于AODE和再抽样的软件缺陷预测模型[J].计算机工程与设计,2011,32(1):210-212,300. |
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| 作者姓名： | 周丰 马力 |
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| 作者单位： | 华北计算技术研究所,北京,100083 |
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| 摘 要： | 为了确切地估计软件缺陷分布,提出了基于AODE和再抽样的软件缺陷预测模型。分析了几种常用贝叶斯分类器的优缺点,以及软件缺陷度量元和再抽样方法,设计了多AODE分类器,该分类器是由多个AODE二分类器组成的。在以上基础上,建立了采用多AODE分类器和再抽样方法的软件缺陷预测模型,实验结果表明,该分类器的分类准确度较常用贝叶斯分类器高。通过收集到的缺陷数据样本比较结果表明,该模型比一些常用贝叶斯模型具有更好的预测准确性和稳定性。
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| 关 键 词： | 平均单一相关评估器 贝叶斯分类器 软件缺陷度量 再抽样 软件缺陷预测 |
Software defect prediction model based on AODE and resampling |
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| ZHOU Feng,MA Li.Software defect prediction model based on AODE and resampling[J].Computer Engineering and Design,2011,32(1):210-212,300. |
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| Authors: | ZHOU Feng MA Li |
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| Affiliation: | (North China Institute of Computing Technology,Beijing 100083,China) |
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