| IEEE 1149.1可测试性设计技术的研究与发展 |
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| 引用本文： | 邱峰,梁松海.IEEE 1149.1可测试性设计技术的研究与发展[J].测控技术,1999,18(1):28-30. |
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| 作者姓名： | 邱峰 梁松海 |
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| 作者单位： | 1. 中国航天工业总公司测控公司测控系统部,100830
2. 清华大学微电子所,100084 |
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| 摘 要： | 在分析ＶＬＳＩ可测试性设计技术的发展情况和设计准则的基础上，讨论了研究与发展ＩＥＥＥ１１４９．１可测试性设计技术的重要意义，以及该技术在我国民用和军用工业应用的前景。
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| 关 键 词： | 可测试性 可测试性设计 边界扫描测试 IEEE1149.1标准 |
| 修稿时间： | 1998-07 |
Research and Develop IEEE 1149.1 Testability Design |
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| Qiu Feng,Liang Songhai.Research and Develop IEEE 1149.1 Testability Design[J].Measurement & Control Technology,1999,18(1):28-30. |
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| Authors: | Qiu Feng Liang Songhai |
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| Abstract: | Based
on analyzing development and design principles of VLSI testability design,the great
significance of researching and developing IEEE 1149.1 testability design, and its
application prospect in civil and military industry in our country are discussed. |
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| Keywords: | |
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