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| 基于改进Radon变换的芯片几何特征检测 | |
| 引用本文： | 孔华锋,鲁宏伟,胡东红.基于改进Radon变换的芯片几何特征检测[J].计算机工程,2008,34(10):210-211. |
| 作者姓名： | 孔华锋 鲁宏伟 胡东红 |
| 作者单位： | 1. 华中科技大学计算机科学与技术学院,武汉,430074;华中科技大学图像识别与人工智能研究所,武汉,430074 2. 华中科技大学计算机科学与技术学院,武汉,430074 3. 湖北大学物理学与电子技术学院,武汉,430062 |
| 摘 要： | 在分析芯片几何特征检测的基础上，根据Radon变换的基本思想，提出一种用于芯片几何特征检测的改进Radon变换算法，对该算法在矩形芯片边界直线的检测过程中确定边界直线、剔除干扰和加快速度的具体应用进行了研究。试验结果表明，与传统算法相比，该算法可以有效提高识别效率30%，同时具有鲁棒性好及检测结果准确等特点。 |
| 关 键 词： | Radon变换 直线检测 图像处理 模式识别 |
| 文章编号： | 1000-3428(2008)10-0210-02 |
| 修稿时间： | 2007年7月8日 |
Geometry Feature Detection of Chip Based on Improved Radon Transform |
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| KONG Hua-feng,LU Hong-wei,HU Dong-hong.Geometry Feature Detection of Chip Based on Improved Radon Transform[J].Computer Engineering,2008,34(10):210-211. | |
| Authors: | KONG Hua-feng LU Hong-wei HU Dong-hong |
| Affiliation: | (1. School of Computer Science and Technology, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074; 2. Institute of Pattern Recognition and Artificial Intelligence, Huazhong University of Science and Technology, Wuhan 430074;3. School of Physics and Electronic Technology, Hubei University, Wuhan 430062) |
| Abstract: | Basing on analysis of geometry feature of chip and fundament of Radon transform, this paper presents a method for detecting the geometry feature of chip based on improved Radon transform. The algorithm research focuses on detecting edge lines, eliminating the disturbing and improving performance in the boundary detection process of rectangular chip. The enhancement on the efficiency of the algorithm is about 30% proved. Experimental result shows that this algorithm is robust and the result is accurate. |
| Keywords: | Radon transform line detection image processing pattern recognition |
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