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大宽厚比悬空薄膜的制备与性能分析研究
引用本文:李博,徐晨,赵慧,赵林林,霍文晓,宋义超,沈光地.大宽厚比悬空薄膜的制备与性能分析研究[J].传感技术学报,2006,19(5):1391-1394.
作者姓名:李博  徐晨  赵慧  赵林林  霍文晓  宋义超  沈光地
作者单位:北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京市光电子技术实验室,北京,100022
摘    要:研究了MEMS中的悬空薄膜制备技术.用浓硼扩散自终止腐蚀法和PECVD淀积法分别进行了试验,得到了宽厚比为3000∶1的悬空浓硼Si薄膜和宽厚比为9 000∶1的SiNx薄膜.对它们的力学特性进行了分析,用纳米硬度计测量了薄膜的杨氏模量.比较了两种方法的优劣.

关 键 词:大宽厚比  悬空薄膜  杨氏模量  纳米硬度计
文章编号:1004-1699(2006)05-1391-04
修稿时间:2006年7月1日

Fabrication and characterization of free standing structure membrane with high width-thickness ratio
Li Bo,Xu Chen,Zhao Hui,Zhao Linlin,Huo Wenxiao,Song Yichao,Shen Guangdi.Fabrication and characterization of free standing structure membrane with high width-thickness ratio[J].Journal of Transduction Technology,2006,19(5):1391-1394.
Authors:Li Bo  Xu Chen  Zhao Hui  Zhao Linlin  Huo Wenxiao  Song Yichao  Shen Guangdi
Abstract:
Keywords:
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