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一种二维微位移平台测量系统的研究
引用本文:马静华,葛运建,吴仲城,孟明,沈春山,申飞,石 振.一种二维微位移平台测量系统的研究[J].传感技术学报,2005,18(4):739-741,744.
作者姓名:马静华  葛运建  吴仲城  孟明  沈春山  申飞  石 振
作者单位:1. 科学院合肥智能机械研究所,合肥230031;中国科学技术大学自动化系,合肥230026
2. 科学院合肥智能机械研究所,合肥230031
摘    要:微位移测量已经广泛应用于精密测量领域中,实现微位移测量最关键的环节在于精确的定位和精细的运动.文章设计了一种基于应变方式进行二维微位移(纳米级)测量的系统,详细阐述了该系统主要组成部分:微位移检测传感器、处理电路及相关系统软件.实验结果表明该系统可以满足二维微(纳米级)测量的要求.

关 键 词:微位移  应变式  微处理器
文章编号:1005-9490(2005)04-0739-03
收稿时间:2005-01-18
修稿时间:2005-01-18

Study of a Measurement System for Two2Dimensional Micro2Disp
MA J i nghu,GE Yunj i an,WU Zhon gchen g,M EN G Mi ng,S H EN Chunshan,S H EN f ei,S H I Zhen.Study of a Measurement System for Two2Dimensional Micro2Disp[J].Journal of Transduction Technology,2005,18(4):739-741,744.
Authors:MA J i nghu  GE Yunj i an  WU Zhon gchen g  M EN G Mi ng  S H EN Chunshan  S H EN f ei  S H I Zhen
Affiliation:1. Institute of Intelligent Machines, Chinese Academy of Sciences, Hefei 230031, China; 2. Dept. of Automation, University of Science and Technology of China, Hefei 230026, China
Abstract:Micro-displacement measurement has already been applied in the accurate measurement field extensively and the key of it lies in the accurate localization and movement. The design of a measurement system based on strain gauge for two-dimensional micro-displacement is introduced. The components which include micro-displacement measurement sensor, circuits and software are represented. The experiment result shows that it can be utilized to measure two-dimensional micro-displacement on micron or nanometer level.
Keywords:micro-displacement  strain gauge  MCU
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