| 基于FPGA硬件的单粒子翻转模拟技术 |
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| 引用本文： | 施聿哲,陈鑫,陈凯,白雨鑫,张颖.基于FPGA硬件的单粒子翻转模拟技术[J].数据采集与处理,2021,36(4):822-830. |
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| 作者姓名： | 施聿哲 陈鑫 陈凯 白雨鑫 张颖 |
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| 作者单位： | 南京航空航天大学电子信息工程学院，南京 211106 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(61106029,61701228)资助项目；航空科学基金(20180852005)资助项目；模拟集成电路重点实验室基金(61428020304)资助项目。 |
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| 摘 要： | 由于航空航天活动越发复杂，深空通信和姿态控制等航空航天电子系统大量采用集成电路芯片以提高各方面性能。随着集成电路工艺节点的进一步缩小，电路受到单粒子效应而发生错误的概率越来越大。评估集成电路对单粒子翻转（Single event upset， SEU）的敏感性对航空航天的发展具有重要意义。电路规模的增加和系统功能集成度的提高给评估速度带来了严峻挑战。本文提出了一种能适用于超大规模集成电路（Very large scale integration， VLSI）的快速故障注入方法。该方法可通过脚本自动分析电路，并修改逻辑使电路具备故障注入功能。实验结果表明，该方法实现的故障注入速度可以达到纳秒级，可大幅缓解电路规模和评估时间之间的矛盾，从而满足VLSI的评估需求。
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| 关 键 词： | 单粒子翻转 超大规模集成电路 故障注入 |
| 收稿时间： | 2020/10/22 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2021/3/11 0:00:00 |
FPGA Based Single Event Upset Simulation Technology |
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| SHI Yuzhe,CHEN Xin,CHEN Kai,BAI Yuxin,ZHANG Ying.FPGA Based Single Event Upset Simulation Technology[J].Journal of Data Acquisition & Processing,2021,36(4):822-830. |
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| Authors: | SHI Yuzhe CHEN Xin CHEN Kai BAI Yuxin ZHANG Ying |
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| Affiliation: | College of Electronic and Information Engineering, Nanjing University of Aeronautics and Astronautics, Nanjing 211106, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | single event upset(SEU) very large scale integration (VLSI) fault injection |
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