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| 含光储微网的配电网可靠性影响研究 | |
| 引用本文： | 杨海晶,李朝晖,宋宁希,陈上吉,尚德华,刘洁,于泷泽.含光储微网的配电网可靠性影响研究[J].电测与仪表,2015,52(4):42-46. |
| 作者姓名： | 杨海晶 李朝晖 宋宁希 陈上吉 尚德华 刘洁 于泷泽 |
| 作者单位： | 1. 国网河南省电力公司电力科学研究院,郑州,450052 2. 国网河南省电力公司,郑州,450052 3. 天津天大求实电力新技术股份有限公司,天津,300384 |
| 摘 要： | 文章针对光储微网接入配电网系统可靠性问题进行研究,从光储微网的特点入手,分析光储微网接入位置和运行方式对配电网的影响,并建立基于最小回路法的含光储微网的配电网可靠性评估模型,在典型网架结构基础上进行验证。研究表明,光储微网在理论分析上可提升线路节点电压,降低网损,并在一定条件下提升系统的可靠性,该评估模型能够对实际光储微网接入的配电网进行可靠性评估,为光储微网的大量接入和可靠性提升提供指导。 |
| 关 键 词： | 光储微网 配电网可靠性 评估模型 最小回路法 |
| 收稿时间： | 2014/3/25 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2014/4/2 0:00:00 |
Research of Photovoltaic-battery Micro Grid Access Effect the Reliability of the Distribution Network |
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| yanghaijing,lizhaohui,songningxi,chenshangji,shangdehu,liujie and yulongze.Research of Photovoltaic-battery Micro Grid Access Effect the Reliability of the Distribution Network[J].Electrical Measurement & Instrumentation,2015,52(4):42-46. | |
| Authors: | yanghaijing lizhaohui songningxi chenshangji shangdehu liujie and yulongze |
| Affiliation: | Yang Haijing;Li Zhaohui;Song Ningxi;Chen Shangji;Shang Dehua;Liu Jie;Yu Longze;HAEPC Electric Power Research Institute;State Grid Henan Electric Power Company;Tianjin Tianda Qiushi Electric Power High Technology Co. ,Ltd.; |
| Abstract: | |
| Keywords: | photovoltaic-battery micro grid distribution network reliability evaluation model the minimum circuit method |
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