首页
|
官方网站
微博
|
高级检索
全部学科
医药、卫生
生物科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
农业科学
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
历史、地理
语言、文字
文学
艺术
文化、科学、教育、体育
马列毛邓
全部专业
中文标题
英文标题
中文关键词
英文关键词
中文摘要
英文摘要
作者中文名
作者英文名
单位中文名
单位英文名
基金中文名
基金英文名
杂志中文名
杂志英文名
栏目中文名
栏目英文名
DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
综合法片位式微处理器测试生成
引用本文:
黄维康,任至镐,杨莲兴.综合法片位式微处理器测试生成[J].电子测量技术,1983(2).
作者姓名:
黄维康
任至镐
杨莲兴
作者单位:
复旦大学电子工程系,复旦大学电子工程系,复旦大学电子工程系
摘 要:
本文介绍一种位片式微处理器测试生成方法,这种方法所产生的测试图形数比启法式测试生成和功能法测试生成所产生的测试图形数少得多,而故障复盖率只略低于功能法测试生成。
本文献已被
CNKI
等数据库收录!
设为首页
|
免责声明
|
关于勤云
|
加入收藏
Copyright
©
北京勤云科技发展有限公司
京ICP备09084417号-23
京公网安备 11010802026262号