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热老化对EPDM电树枝局放特性的影响研究
引用本文:陈祖祥,田志强,张梦楠,袁庚,李春茂.热老化对EPDM电树枝局放特性的影响研究[J].电工技术,2021(19):141-146.
作者姓名:陈祖祥  田志强  张梦楠  袁庚  李春茂
作者单位:西南交通大学电气工程学院,四川 成都 611756
摘    要:电树枝生长过程中常伴随有局放发生,其与电树的发展有极大关系,并会导致绝缘出现不可逆的损伤.为此,在140℃下对三元乙丙橡胶(EPDM)绝缘试样进行了梯度加速热老化,并对不同老化程度试样开展了电树枝观测试验,采集了电树枝生长过程的局放信号,结合陷阱参数测试分析了热老化对EPDM电树枝局放特性的影响机理.结果表明:老化前期,电树枝发展表现为4个阶段,而老化后期为2个阶段;未老化EPDM电树枝放电相位分布在-50~90°与130~270°内,且正半周放电更剧烈;局放随电树枝的延伸同样呈现一定的阶段性变化,且随老化时间增加,放电量、放电次数与放电总能量先降低后大幅增加;陷阱测试显示,陷阱密度及能级随热老化时间先减小后增大,绝缘内部电荷聚集,对局放有极大影响.

关 键 词:三元乙丙橡胶  热老化  电树枝  局放  陷阱特性  电荷积聚

Study on the Effect of Thermal Aging on Partial Discharge Characteristics of EPDM Electrical Tree
CHEN Zuxiang,TIAN Zhiqiang,ZHANG Mengnan,YUAN Geng,LI Chunmao.Study on the Effect of Thermal Aging on Partial Discharge Characteristics of EPDM Electrical Tree[J].Electric Engineering,2021(19):141-146.
Authors:CHEN Zuxiang  TIAN Zhiqiang  ZHANG Mengnan  YUAN Geng  LI Chunmao
Abstract:
Keywords:
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