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| 功率晶体管金属化可靠性试验研究 | |
| 引用本文： | 张秀国,张大成,史宝江,梁福馨,高光渤.功率晶体管金属化可靠性试验研究[J].北京工业大学学报,1976(1). |
| 作者姓名： | 张秀国 张大成 史宝江 梁福馨 高光渤 |
| 作者单位： | 北京工业大学半导体器件专业71级，北京工业大学半导体器件专业71级，北京工业大学半导体器件专业71级，774厂 学员，学员，学员 |
| 摘 要： | 近年来,随着卫星通讯、海底电缆、无线电摇控、电子对抗、大型电子计算机等的飞速发展,对功率晶体管的可靠性提出了越来越高的要求。 功率晶体管的可靠性有短期可靠性及长期可靠性。前者是指功率晶体管在瞬时电冲击下,抗烧毁的能力,“二次击穿”是引起这种瞬时烧毁的原因;而长期可靠性,在很大程度 |
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