| 双参数指数分布异常数据的检验 |
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| 引用本文： | 李云飞,黄继伟,朱宏.双参数指数分布异常数据的检验[J].电子科技大学学报（自然科学版）,2005,34(1):127-130. |
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| 作者姓名： | 李云飞 黄继伟 朱宏 |
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| 作者单位： | 1.电子科技大学应用数学学院 成都 610054 |
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| 摘 要： | 针对双参数指数分布的异常大数据,给出了一种新的检验方法。寻找到总体参数的具有较好稳健性的估计量,并在此基础上构造出检验统计量,求出了该检验统计量精确的概率密度函数和大样本情形下的近似分布,得到了检验临界值简洁的近似表达式。
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| 关 键 词： | 双参数指数分布 异常数据 次序统计量 分位数 检验统计量 |
| 收稿时间： | 2004-02-24 |
Detection of Outliers from the Two-Parameter Exponential Distribution |
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| LI Yun-fei,HUANG Ji-wei,ZHU Hong.Detection of Outliers from the Two-Parameter Exponential Distribution[J].Journal of University of Electronic Science and Technology of China,2005,34(1):127-130. |
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| Authors: | LI Yun-fei HUANG Ji-wei ZHU Hong |
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| Affiliation: | 1.School of Applied Mathematics,UEST of China Chengdu 610054 |
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| Abstract: | In this paper, a method of examination for the upper outliers from the two-parameter exponential distribution is discussed. A new test statistic is given. We derive the accurate density function and the approximate distribution of this test statistic. |
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